芯片失效分析常用方法

時間：2020-04-21

作者：儀準科技（北京）有限公司

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FIB/SEM/EDX技術(shù)指標
聚焦離子束顯微鏡FIB/SEM/EDX FEI Scios 2 DualBeam技術(shù)指標一、技術(shù)指標 1、電子束電流范圍：1 pA - 400 nA； 2、電子束電壓：200eV-30 keV，具有減速模式 3、電子束分辨率：0.7 nm (30 keV)、1.4 nm(1 keV) 4、大束流Sidewinder離子鏡筒； 5、離子束加速電壓500V-30kV（分辨率：3.0 nm）； 6、離
常用顯微鏡介紹
常用顯微鏡介紹顯微鏡分析檢測一、顯微鏡分析檢測簡介：顯微鏡是我們實驗室較常用的分析設(shè)備，成本低，操作簡單，成像清晰。反饋的是樣品的原貌。通常顯微鏡是用來做外觀的檢測和圖片留存。外觀檢查就是目測或利用一些簡單儀器，如立體顯微鏡、金相顯微鏡甚至放大鏡等工具檢查樣品的外觀，尋找失效的部位和相關(guān)的物證，主要的作用就是失效定位和初步判斷樣品的失效模式。比如檢測一個PCB樣品，外觀檢查主要檢查PCB的污
半導體技術(shù)公益課
半導體技術(shù)公益課：有需要線上分享可以安排時間講您擅長的領(lǐng)域，半導體相關(guān)的都歡迎，話題時長不限名稱：半導體技術(shù)公益課講師征集時間：每周五下午5-7點時長：不限方式：直播分享演講者可以準備ppt，發(fā)來題目，框架，時長，個人簡介，協(xié)調(diào)好時間后即可安排。想做線上分享的，可以聊您擅長的領(lǐng)域，半導體相關(guān)的都歡迎，話題，時長不限 IC失效分析實驗室北軟檢測智能產(chǎn)品檢測實驗室于2015年底實施運營
芯片、半導體、集成電路，傻傻分不清？
作為半導體人、電子元器件銷售或采購，你真的知道什么是芯片、半導體和集成電路嗎？知道它們之間的關(guān)系與區(qū)別嗎？一、什么是芯片芯片，又稱微電路（microcircuit）、微芯片（microchip）、集成電路（integrated circuit， IC），是指內(nèi)含集成電路的硅片，體積很小，常常是計算機或其他電子設(shè)備的一部分。芯片（chip）就是半導體元件產(chǎn)品的統(tǒng)稱，是集成電路（IC， int