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半導體技術公益課 2020年4月18日(周六) 題 目: 芯片流片前的物理驗證 簡 介: 1.**部分drc; 2.*二部分lvs; 時 長: 10分鐘 主 講 人: Allen 產(chǎn)品工程師 時 間 : 11:00-11:10 題 目:芯片失效分析方法及流程 簡 介:失效分析方法; 失效分析流程; 失效分析案例; 失效分析實驗室介紹。 分享時長:45分鐘 主 講人:趙俊紅就職于科委檢測中心,集成電
熬過了國內(nèi)疫情的難關,再臨**疫情“失控”,對于國內(nèi)逐步復工復產(chǎn)的PCB產(chǎn)業(yè)來說,出口業(yè)務正遭遇著至暗時刻。 眾所周知,PCB作為電子信息產(chǎn)品制造的基礎產(chǎn)業(yè),原本受宏觀經(jīng)濟周期波動的影響較大;此次,更因海外疫情告急,短期內(nèi)或使**PCB產(chǎn)值受一定影響。 特別是中國作為**PCB產(chǎn)值**50%的國家,以出口業(yè)務為主的PCB廠商不在少數(shù),基于海外多國的封城封國舉措,國內(nèi)PCB廠商也正面臨著訂單流失、交付
熱插拔帶來的EOS損壞 \使用USB接口的產(chǎn)品,如果熱插拔設計存在問題的話,*帶來EOS破壞。 產(chǎn)品熱插拔的時候,可能會帶來瞬時的大電流,這種大電流,是一種震蕩波,首先,可能直接破壞芯片或器件,而是激發(fā)芯片產(chǎn)生大電流的latchup效應,最后燒壞芯片或器件。 某產(chǎn)品試用時,插拔時頻頻出現(xiàn)損壞,經(jīng)過比對電性分析,發(fā)現(xiàn)電性明顯異常,進行EMMI測試,發(fā)現(xiàn)芯片表面異常亮點,在顯微鏡下,發(fā)現(xiàn)鋁線燒損,判
IC產(chǎn)品質量與可靠性測試 AA探針臺 2018-01-19 閱讀5914 質量(Quality)和可靠性(Reliability)在一定程度上可以說是IC產(chǎn)品的生命,好的品質,長久的耐力往往就是一顆優(yōu)秀IC產(chǎn)品的競爭力所在。在做產(chǎn)品驗證時我們往往會遇到三個問題,驗證什么,如何去驗證,哪里去驗證,這就是what, how , where 的問題了。 解決了這三個問題,質量和可靠性就有了保證,制造商才
公司名: 儀準科技(北京)有限公司
聯(lián)系人: 趙
電 話: 01082825511-869
手 機: 13488683602
微 信: 13488683602
地 址: 北京海淀中關村東升科技園
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網(wǎng) 址: advbj123.cn.b2b168.com
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