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一提到IC漏電定位大家都認為只有OBIRCH,甚至現(xiàn)在可笑的是認為OBIRCH是一種設備的名稱。今天小編給大家普及一下這方面的知識。 OBIRCH其實只是一種技術,是早年日本NEC發(fā)明并申請了專li。它的原理是:給IC加上電壓,使其內部有微小電流流過,同時在芯片表面用激光進行掃描。 激光掃描的同時,對微小電流進行監(jiān)測,當激光掃到某個位置,電流發(fā)生較大變化,設備對這個點進行標記,也就是說這個位置即為
援助方案分兩部分,總****過100**民幣。 1、免費捐贈探針臺產品(5臺) A、 ADVANCED PW-400-PCKG 3套 每套配置如下: PW-400:4 inch chuck(探針臺主體) 1 pcs SMZ-168: 20X目鏡 15-100x放大(體式顯微鏡) 1 pcs ADV-5M: 500萬像素,操作軟件(CCD) 1 pcs MP-01: 80TPI,仰角機構,磁性底座(探
電子元器件失效分析 1、簡介 電子元器件技術的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎,元器件可靠性工作的根本任務是提高元器件的可靠性。因此,必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過分析確定失效機理,找出失效原因,反饋給設計、制造和使用,共同研究和實施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。 電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失
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