掃描電鏡SEM你了解嗎？

時間：2020-04-01作者：儀準科技（北京）有限公司瀏覽：164

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• 詞條

  詞條說明

• 產(chǎn)業(yè)專家解讀功率半導體行業(yè)

  *簡介三年以上**半導體企業(yè)工作經(jīng)驗，曾任職于Infineon（英飛凌）、Nexperia(安世)，對功率半導體行業(yè)有著深刻的洞察力。紀要內(nèi)容功率半導體的分類，*三代半導體材料特性，市場的信息，**的一些主流的玩家，國內(nèi)上升趨勢非常好的一些公司。 目前**的功率半導體器件主要由歐洲、美國、日本三個國家和地區(qū)提供，他們憑借**的技術和生產(chǎn)制造工藝，以及良好的品質(zhì)管理體系，大約占據(jù)了**70％的市場

• FIB功能介紹

  FIB - SEM雙束系統(tǒng)在微電子領域的應用 隨著半導體電子器件及集成電路技術的飛速發(fā)展，器件及電路結(jié)構(gòu)越來越復雜，這對微電子芯片工藝診斷、失效分析、微納加工的要求也越來越高。FIB - SEM雙束系統(tǒng)所具備的強大的精細加工和微觀分析功能，使其廣泛應用于微電子設計和制造領域。 基本原理： FIB - SEM雙束系統(tǒng)是指同時具有聚焦離子束（Focused Ion Beam，F(xiàn)IB）和掃描電子顯微鏡（

• 光學設備廠家及供應商匯總

  以下是光學設備廠家及供應商匯總，若有您知道還沒統(tǒng)計上的，請留言補充，滴水成海能讓更多人受益。 光學設備廠家及供應商匯總 單位名稱 電話 主營產(chǎn)品 上海儀準電子科技有限公司 13488683602 金相顯微鏡、體視顯微鏡、微光顯微鏡、紅外顯微鏡、掃描電子顯微鏡、超聲波掃描顯微鏡、Ⅹ射線、探針臺、半導體失效分析設備 上海富萊光學科技有限公司 051255183943 奧林巴斯顯微鏡、三豐測量工具、日立

• 失效分析實驗室選擇

  失效分析技術，失效分析實驗室，失效機制是導致零件、元器件和材料失效的物理或化學過程。此過程的誘發(fā)因素有內(nèi)部的和外部的。在研究失效機制時，通常先從外部誘發(fā)因素和失效表現(xiàn)形式入手，進而再研究較隱蔽的內(nèi)在因素。在研究批量性失效規(guī)律時，常用數(shù)理統(tǒng)計方法，構(gòu)成表示失效機制、失效方式或失效部位與失效頻度、失效百分比或失效經(jīng)濟損失之間關系的排列圖或帕雷托圖，以找出必須首先解決的主要失效機制、方位和部位。任一產(chǎn)品