如何提高系統(tǒng)的EMC、EMI性能

時間：2025-07-18作者：武漢市鑫宇環(huán)檢測技術(shù)有限公司瀏覽：187

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  詞條說明

• 可靠性測試項目包括哪些？

  可靠性測試項目包括哪些？可靠性試驗是把試驗樣品放置于人工模擬的儲存、運(yùn)輸和工作環(huán)境中來進(jìn)行的相關(guān)可靠性試驗統(tǒng)稱為環(huán)境試驗，考核各類 產(chǎn)品在各種環(huán)境(振動、沖擊、離心、溫度、熱沖擊、潮熱、鹽霧、低氣壓等)條件下的適應(yīng)能力，可靠性試驗也是評價產(chǎn)品可靠性的重要試驗方法之一。一般分為這幾類：可靠性測試分類：氣候環(huán)境測試，機(jī)械環(huán)境測試，設(shè)計驗證測試等。環(huán)境與可靠性常規(guī)測試項目有哪些？(1)溫濕度試驗溫濕度試

• 氙燈耐候老化試驗測試標(biāo)準(zhǔn)大全

  氙燈耐候老化試驗箱適用于橡膠、涂層、電工電子產(chǎn)品、材料在受到太陽輻射條件下產(chǎn)生的熱、機(jī)械、化學(xué)、電等的效應(yīng)及確定其適應(yīng)性，采用氙燈做光源，光譜分布較接近太陽，具有光照、溫度、濕度、凝露等環(huán)境因素，是較好綜合性的環(huán)境試驗設(shè)備。 氙燈耐候老化試驗箱涉及的各行業(yè)測試標(biāo)準(zhǔn) 1、GB/T16422-2-1999 《塑料實驗室光源暴露試驗方法 *2部分：氙弧燈》 2、GB/T16991-1997《紡織品色牢度

• 元器件的失效原因和故障檢查方法

  電子元器件在使用過程中，常常會出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障，從而影響設(shè)備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。 電子設(shè)備*部分故障，究其較終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因，及時定位到元器件的故障原因，就能及時排除故障，讓設(shè)備正常運(yùn)行。 ?溫度導(dǎo)致失效：元件失效的重要因素之一就是環(huán)境溫度對元器件的影響。 ?溫度變化對半導(dǎo)體器件的影響： 由于P

• 可靠性測試設(shè)計分析

  從硬件角度出發(fā)，可靠性測試分為兩類： 一是，以行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或者國家標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)的可靠性測試。比如電磁兼容試驗、氣候類環(huán)境試驗、機(jī)械類環(huán)境試驗和安規(guī)試驗等。 二是，企業(yè)自身根據(jù)其產(chǎn)品特點(diǎn)和對質(zhì)量的認(rèn)識所開發(fā)的測試項目。比如一些故障模擬測試、電壓拉偏測試、快速上下電測試等。 下面分別介紹這兩類可靠性測試。 基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)的可靠性測試方法 產(chǎn)品在生命周期內(nèi)必然承受很多外界應(yīng)力，常見的應(yīng)力有業(yè)務(wù)負(fù)荷、溫