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電子元器件在使用過程中,常常會出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障,從而影響設備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。 電子設備*部分故障,究其較終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因,及時定位到元器件的故障原因,就能及時排除故障,讓設備正常運行。 ?溫度導致失效:元件失效的重要因素之一就是環(huán)境溫度對元器件的影響。 ?溫度變化對半導體器件的影響: 由于P
長期以來,熱沖擊試驗一直是檢查鍍通孔和焊點連接可靠性的公認方法。從歷史上看,熱沖擊測試是利用雙室空氣對空氣系統(tǒng)或液體對液體系統(tǒng)進行的。這兩種方法都在成本,時間以及必須在高溫和低溫環(huán)境之間運輸樣品這一事實上都具有明顯的缺點。由于電線的長度和數(shù)量,樣品在溫度環(huán)境之間的運輸使監(jiān)測樣品的電阻變得困難且不準確。武漢沖擊振動檢測在通常情況下與傳統(tǒng)熱沖擊方法相關的不頻繁監(jiān)視也使得對“毛刺”狀況的檢測充其量只能做
武漢做振動測試報告怎么收費?哪家比較好?一般需要做環(huán)境可靠性試驗的領域主要有電子電器、鐵路、汽車零部件及新能源等類,其中就有振動測試這一項。而產(chǎn)品做振動測試的目的,是為了模擬產(chǎn)品在使用或運輸?shù)倪^程中,評定各種頻率振動環(huán)境下,是否能耐受其壓力。較為常見的振動方式可分為“正弦振動”及“隨機振動“兩種:1、關于正弦振動它的原理是以模擬脈動、旋轉(zhuǎn)、震蕩所產(chǎn)生的振動,以及產(chǎn)品結構共振頻率分析和共振點駐留驗證
??HAST試驗是高加速溫濕度應力測試,也稱高壓蒸煮試驗是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件性測試方法。其目的是通過將測試室中的水蒸氣壓力增加到測試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的高水平來評估測試樣品的耐濕性。????????HAST測試標準與高溫/高濕測試(85°C/85% RH)相比,HAST 由于濕
公司名: 武漢市鑫宇環(huán)檢測技術有限公司
聯(lián)系人: 邱經(jīng)理13266883556
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地 址: 湖北武漢江夏區(qū)武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)佛祖嶺街竹林小路9號武漢金能風電產(chǎn)業(yè)園3號廠房棟1-2層102室
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網(wǎng) 址: whzhiyitest.b2b168.com
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