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溫度試驗是質(zhì)量與可靠性工程師經(jīng)常開展的環(huán)境試驗,但要真正做好溫度試驗,需要掌握的知識內(nèi)容很多,本文介紹溫度試驗主要知識點,供學習參考。 溫度對試件的影響 溫度相關試驗是環(huán)境試驗入門,包括高溫試驗、低溫試驗、溫度變化試驗。高低溫試驗主要驗證產(chǎn)品在較值溫度條件下是否發(fā)生變形或功能影響,是否可以正常運作。溫度變化試驗主要測試產(chǎn)品反復承受溫度較值的耐受力。 高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在
01、概述 材料在室外使用時,長期暴露在日光或玻璃過濾后的日光下,因此測定光、熱、濕度和其他氣候應力對材料顏色和性能的影響非常重要。 然而,通常需要采用特定實驗室光源加速老化試驗來較加快速的測定光、熱、濕度對材料物理、化學和光學性能的影響。實驗室設備中的暴露在比大氣老化有更多的可控條件下進行,用來加速高聚物講解和產(chǎn)生實效。 因為實驗室加速暴露與實際使用的差異,且實驗室試驗往往不能再現(xiàn)實際使用條件下
從硬件角度出發(fā),可靠性測試分為兩類: 一是,以行業(yè)標準或者國家標準為基礎的可靠性測試。比如電磁兼容試驗、氣候類環(huán)境試驗、機械類環(huán)境試驗和安規(guī)試驗等。 二是,企業(yè)自身根據(jù)其產(chǎn)品特點和對質(zhì)量的認識所開發(fā)的測試項目。比如一些故障模擬測試、電壓拉偏測試、快速上下電測試等。 下面分別介紹這兩類可靠性測試。 基于行業(yè)標準、國家標準的可靠性測試方法 產(chǎn)品在生命周期內(nèi)必然承受很多外界應力,常見的應力有業(yè)務負荷、溫
電子元器件在使用過程中,常常會出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障,從而影響設備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。 電子設備*部分故障,究其較終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因,及時定位到元器件的故障原因,就能及時排除故障,讓設備正常運行。 ?溫度導致失效:元件失效的重要因素之一就是環(huán)境溫度對元器件的影響。 ?溫度變化對半導體器件的影響: 由于P
公司名: 武漢市鑫宇環(huán)檢測技術有限公司
聯(lián)系人: 邱經(jīng)理13266883556
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手 機: 13266883556
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地 址: 湖北武漢江夏區(qū)武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)佛祖嶺街竹林小路9號武漢金能風電產(chǎn)業(yè)園3號廠房棟1-2層102室
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網(wǎng) 址: whzhiyitest.b2b168.com
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