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優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|常見的IC檢測(cè)設(shè)備有哪些?
以下是一些常見的 IC 檢測(cè)設(shè)備:自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)功能:可自動(dòng)對(duì) IC 進(jìn)行性能驗(yàn)證和故障診斷,能精確測(cè)量和評(píng)估芯片各項(xiàng)性能指標(biāo),通過自動(dòng)化測(cè)試流程大幅提高測(cè)試效率,支持多種測(cè)試模式和程序以滿足不同測(cè)試需求,并采用先進(jìn)故障診斷和隔離技術(shù)確保測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠.應(yīng)用:廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、制造、封裝等各個(gè)環(huán)節(jié),如 SoC 測(cè)試機(jī)用于智能手機(jī)、平板電腦、數(shù)據(jù)中心等高端電子設(shè)備中的系統(tǒng)級(jí)芯片測(cè)試;存
工業(yè) CT 掃描檢測(cè)在電路板中的應(yīng)用
工業(yè) CT(計(jì)算機(jī)斷層掃描)掃描檢測(cè)在電路板領(lǐng)域有諸多重要應(yīng)用。首先,在電路板的內(nèi)部缺陷檢測(cè)方面表現(xiàn)出色。電路板內(nèi)部的線路、焊點(diǎn)以及各種電子元件之間的連接情況復(fù)雜。工業(yè) CT 掃描能夠穿透電路板,清晰地呈現(xiàn)出內(nèi)部結(jié)構(gòu),例如可以檢測(cè)出內(nèi)部線路是否存在斷路、短路情況。對(duì)于隱藏在多層電路板中間層的線路缺陷,傳統(tǒng)檢測(cè)方法很難發(fā)現(xiàn),而工業(yè) CT 可以精確地定位微小的斷路點(diǎn)或者線路之間的異常連接,像是因生產(chǎn)過
光譜分析法原子發(fā)射光譜法(AES):原理是通過激發(fā)樣品中的原子,使其發(fā)射出具有特征波長的光。對(duì)于不銹鋼,將樣品在高溫等離子體等激發(fā)源下激發(fā),不同元素的原子會(huì)發(fā)射出特定波長的光,如鉻原子發(fā)射出特定波長的光用于其含量的測(cè)定。檢測(cè)時(shí),把不銹鋼樣品制成合適的形狀(如塊狀或屑狀),放入光譜儀的激發(fā)源中,儀器會(huì)記錄發(fā)射光的波長和強(qiáng)度,通過與已知標(biāo)準(zhǔn)樣品的光譜對(duì)比,確定各種化學(xué)成分的含量。這種方法可同時(shí)檢測(cè)多種
新型材料制成的通用零部件對(duì)尺寸及幾何公差檢測(cè)技術(shù)有哪些新要求?
考慮材料特性的檢測(cè)適應(yīng)性各向異性材料:對(duì)于像復(fù)合材料這類具有各向異性的新型材料,檢測(cè)技術(shù)需要考慮其在不同方向上的物理性能差異。例如,碳纖維增強(qiáng)復(fù)合材料在纖維方向和垂直纖維方向的熱膨脹系數(shù)不同,這會(huì)導(dǎo)致在不同溫度環(huán)境下尺寸變化不一致。因此,尺寸及幾何公差檢測(cè)需要在多個(gè)方向上進(jìn)行測(cè)量和評(píng)估。檢測(cè)設(shè)備要能夠精確地分辨不同方向上的微小尺寸變化,并且在制定公差標(biāo)準(zhǔn)時(shí),要根據(jù)材料的各向異性特點(diǎn),設(shè)定不同方向的
公司名: 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司
聯(lián)系人: 曹
電 話:
手 機(jī): 15827322876
微 信: 15827322876
地 址: 廣東深圳龍華街道辦油松第十工業(yè)區(qū)東環(huán)二路二號(hào)
郵 編: 0
網(wǎng) 址: foxconn_cmc.cn.b2b168.com
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