切片分析檢測(cè)對(duì)電子器件的作用？

時(shí)間：2025-09-28作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：427

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 優(yōu)爾鴻信成分分析|FTIR紅外光譜分析實(shí)驗(yàn)室資源

  FTIR紅外光譜分析實(shí)驗(yàn)室資源 哪些樣品可以用FTIR紅外光譜儀來(lái)測(cè)？ 無(wú)機(jī)物粉塵可以用FTIR測(cè)試嗎？ 紅外光譜分析可以看出混合有機(jī)物成分嗎？ 電子產(chǎn)品的包裝薄膜，多層復(fù)合膜用哪些材料，能用FTIR分析測(cè)試嗎？ SMT工藝是否有助焊劑flux污染到PCBA，紅外光譜可以分析出來(lái)嗎？ 塑膠異色，懷疑原料粒子有混料，紅外光譜可以分辨出來(lái)嗎？ 無(wú)塵室內(nèi)partcile成份分析可以打紅外嗎？能識(shí)別par

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|多層陶瓷電容短路失效分析

  一 背景客戶汽車方向盤主板功能失效，經(jīng)排查后主板 C1 電容出現(xiàn)短路現(xiàn)象（經(jīng)萬(wàn)用表量測(cè)，電容兩端阻值約 14 KΩ），送測(cè)至實(shí)驗(yàn)室分析其失效原因。二 實(shí)驗(yàn)方案三 測(cè)試結(jié)果1.電容測(cè)量（破壞前）：采用萬(wàn)用表“歐姆”檔測(cè)量 C1 電容兩端阻值為 14.23KΩ。2.3D 外觀觀察：主板 C1 位置焊盤表面殘存淡黃色透明裝物質(zhì)，其余未見異常。3.SEM 外觀檢查（破壞前）：C1 電容表面及 Psd 點(diǎn)附

• 優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|SI信號(hào)完整性測(cè)試常見問(wèn)題及解決辦法？

  以下是 SI 信號(hào)完整性測(cè)試中的常見問(wèn)題及解決辦法：信號(hào)反射問(wèn)題：當(dāng)傳輸線的特征阻抗與信號(hào)的源端阻抗或負(fù)載阻抗不匹配時(shí)，信號(hào)會(huì)發(fā)生反射，導(dǎo)致信號(hào)波形出現(xiàn)過(guò)沖、下沖和振鈴現(xiàn)象，影響系統(tǒng)時(shí)序.解決辦法：進(jìn)行阻抗匹配，設(shè)計(jì)傳輸線時(shí)確保特性阻抗與源 / 負(fù)載阻抗一致；在接收端或源端加終端電阻吸收反射信號(hào)；優(yōu)化 PCB 布局，減少傳輸線的不連續(xù)性.串?dāng)_問(wèn)題：信號(hào)在傳輸線上傳輸時(shí)，因電磁能量通過(guò)互容和互感耦合

• 2024年優(yōu)爾鴻信檢測(cè)能力驗(yàn)證活動(dòng)邀請(qǐng)函

  ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? --2024年第二十屆能力驗(yàn)證活動(dòng)邀請(qǐng)函?各相關(guān)單位：?能力驗(yàn)證是按照預(yù)先制定的準(zhǔn)則，通過(guò)實(shí)驗(yàn)室間的比對(duì)，來(lái)評(píng)定參加者的能力。對(duì)于實(shí)驗(yàn)室和檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)，能力驗(yàn)證是一種有效的外部質(zhì)量控制活動(dòng)，也是內(nèi)部質(zhì)量控制的重要補(bǔ)充。持續(xù)參加能力驗(yàn)證活動(dòng)，