優(yōu)爾鴻信成分分析|FTIR紅外光譜分析實(shí)驗(yàn)室資源

時(shí)間：2025-09-28作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：247

優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司專注于高低溫測(cè)試,光老化測(cè)試,振動(dòng)沖擊測(cè)試,IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試,鹽霧腐蝕測(cè)試,HALT測(cè)試,sem+eds測(cè)試,清潔度測(cè)試,工業(yè)CT掃描等, 歡迎致電 15827322876

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 不同加工工藝對(duì)鋁及鋁合金成分分析檢測(cè)結(jié)果的影響有哪些？

  鑄造工藝的影響在鑄造過(guò)程中，熔煉溫度和時(shí)間是關(guān)鍵因素。如果熔煉溫度過(guò)高或時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，一些低熔點(diǎn)的合金元素可能會(huì)揮發(fā)，從而導(dǎo)致成分分析檢測(cè)時(shí)這些元素的含量比實(shí)際配方中的含量低。例如，鋁合金中的鎂元素，其熔點(diǎn)相對(duì)較低，在高溫熔煉過(guò)程中容易揮發(fā)損失。冷卻速度也會(huì)對(duì)成分檢測(cè)結(jié)果產(chǎn)生影響。較快的冷卻速度可能導(dǎo)致元素偏析。例如，在鑄造鋁合金時(shí)，硅元素可能會(huì)在晶界處富集，使晶界和晶內(nèi)的成分出現(xiàn)差異。在進(jìn)行成分分析

• 工業(yè) CT 掃描檢測(cè)在電路板中的應(yīng)用

  工業(yè) CT（計(jì)算機(jī)斷層掃描）掃描檢測(cè)在電路板領(lǐng)域有諸多重要應(yīng)用。首先，在電路板的內(nèi)部缺陷檢測(cè)方面表現(xiàn)出色。電路板內(nèi)部的線路、焊點(diǎn)以及各種電子元件之間的連接情況復(fù)雜。工業(yè) CT 掃描能夠穿透電路板，清晰地呈現(xiàn)出內(nèi)部結(jié)構(gòu)，例如可以檢測(cè)出內(nèi)部線路是否存在斷路、短路情況。對(duì)于隱藏在多層電路板中間層的線路缺陷，傳統(tǒng)檢測(cè)方法很難發(fā)現(xiàn)，而工業(yè) CT 可以精確地定位微小的斷路點(diǎn)或者線路之間的異常連接，像是因生產(chǎn)過(guò)

• 優(yōu)爾鴻信老化測(cè)試|三綜合試驗(yàn)是什么

  三綜合試驗(yàn)是什么？?三綜合試驗(yàn)設(shè)備可進(jìn)行高溫、低溫、溫度循環(huán)、溫度沖擊、恒溫恒濕、交變濕熱、正弦定頻、正弦掃頻、隨機(jī)振動(dòng)、沖擊、高溫機(jī)械沖擊、低溫機(jī)械沖擊、溫度-沖擊響應(yīng)普、溫度-振動(dòng)、溫度-振動(dòng)-濕度等產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)。

• 優(yōu)爾鴻信腐蝕測(cè)試|鹽霧試驗(yàn)一個(gè)小時(shí)相當(dāng)于自然環(huán)境多長(zhǎng)時(shí)間？

  鹽霧試驗(yàn)一個(gè)小時(shí)相當(dāng)于自然環(huán)境多長(zhǎng)時(shí)間？鹽霧測(cè)試類型鹽霧試驗(yàn)，用于產(chǎn)品耐鹽霧腐蝕性能測(cè)試，常見(jiàn)鹽霧測(cè)試類型如下：常見(jiàn)的中性鹽霧試驗(yàn)，采用5%的氯化鈉鹽水溶液，使溶液ph調(diào)在中性范圍六到七，作為噴霧用的溶液。試驗(yàn)溫度一般取至35攝氏度。醋酸鹽霧試驗(yàn)在5%氯化鈉溶液中加入一些冰醋酸，使溶液的ph值降為三左右，溶液變成酸性后形成的延誤由中性鹽霧變成酸性，腐蝕速度遠(yuǎn)大于中性試驗(yàn)。銅鹽加速鹽霧試驗(yàn)鹽溶液中加