優(yōu)爾鴻信檢測知識|7系鋁合金材料簡介

時間：2025-09-28

作者：優(yōu)爾鴻信檢測技術(shù)(深圳)有限公司

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詞條
詞條說明
優(yōu)爾鴻信檢測|多層陶瓷電容短路失效分析
一背景客戶汽車方向盤主板功能失效，經(jīng)排查后主板 C1 電容出現(xiàn)短路現(xiàn)象（經(jīng)萬用表量測，電容兩端阻值約 14 KΩ），送測至實驗室分析其失效原因。二實驗方案三測試結(jié)果1.電容測量（破壞前）：采用萬用表“歐姆”檔測量 C1 電容兩端阻值為 14.23KΩ。2.3D 外觀觀察：主板 C1 位置焊盤表面殘存淡黃色透明裝物質(zhì)，其余未見異常。3.SEM 外觀檢查（破壞前）：C1 電容表面及 Psd 點附
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電子開關(guān)短路失效分析，你了解么？
日常工作中，你是否存在產(chǎn)品異常反復失效等情況？失效分析的目的就是借助各種分析技術(shù)和設(shè)備，分辨產(chǎn)品的失效模式和失效機理。較終確認產(chǎn)品失效分析原因，防止失效的反復，提高產(chǎn)品的**性。今天給大家分享的是“電子開關(guān)短路失效分析的實驗案例”一、背景介紹某產(chǎn)品電子開關(guān)兩金屬端間異物污染，導致原本絕緣的兩金屬端之間導通，相當于電子開關(guān)直接閉合導通，阻抗約為40歐。當異物被撥開后，金屬端之間導通現(xiàn)象消失。不良品-
優(yōu)爾鴻信成分分析| FTIR紅外光譜技術(shù)原理
FTIR紅外光譜技術(shù)原理FTIR，屬于分子光譜的應(yīng)用，在工業(yè)領(lǐng)域，較為常用的是中紅外光譜。?目標樣品，被紅外照射之后，樣品內(nèi)部的分子結(jié)構(gòu)吸收特征頻率的輻射，輻射環(huán)境分子的振動轉(zhuǎn)動，引起分子結(jié)構(gòu)的偶極矩改變，由此分子振動能級、轉(zhuǎn)動能級，都被激發(fā)躍遷，躍遷從基態(tài)到激發(fā)態(tài)的能級變化，產(chǎn)生特征頻率、特征強度的分子光譜物質(zhì)的化學結(jié)構(gòu)定性分析，就是基于該光譜圖的特征頻率和特征強度的綜合判定。編