高低溫測(cè)試箱、高低溫試驗(yàn)箱

時(shí)間：2016-07-18作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：199

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說明

• 步入式溫度循環(huán)試驗(yàn)箱的故障排除小技巧

  1.?在做濕熱試驗(yàn)中，出現(xiàn)實(shí)際濕度會(huì)達(dá)到**或者實(shí)際濕度與目標(biāo)濕度相差很大，數(shù)值低得很多，前者的現(xiàn)象：可能是濕球傳感器上的紗布干燥引起，那就要檢查濕球傳感器的水槽中是否缺水，水槽中的水位是由一水位控制器自動(dòng)控制的，查水位控制器供水系統(tǒng)是否供水正常，水位控制器運(yùn)作是否正常。另一種可能就是濕球紗布因使用時(shí)間長(zhǎng)，或供水水質(zhì)純凈度的原因，會(huì)使紗布變硬，使紗布無(wú)法吸收水份而干燥，只要更換或清洗

• 解析高低溫檢測(cè)試驗(yàn)箱密閉性問題

  ? ? ? ? 高低溫檢測(cè)試驗(yàn)箱因?yàn)榫哂懈邷貦z測(cè)，低溫檢測(cè)，高低溫循環(huán)系統(tǒng)檢測(cè)、高低溫高矮濕等實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，在高溫標(biāo)準(zhǔn)下，如做150℃較端化高溫和98%環(huán)境濕度狀況下，實(shí)驗(yàn)室內(nèi)外的壓力差大幅度擴(kuò)大，此刻就磨練試驗(yàn)箱體的密閉性做的怎樣的難題了。如密閉性不太好，會(huì)造成比較嚴(yán)重的漏汽，危害溫度的精密度和勻稱度。 那么導(dǎo)致高低溫檢測(cè)試驗(yàn)箱密閉性難題的有什么原因呢? 一，

• 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品貯存環(huán)境指南

  ?多數(shù)半導(dǎo)體電子元器件都需要在干燥條件下作業(yè)和存放，潮濕的環(huán)境會(huì)腐蝕損壞各類敏感的半導(dǎo)體電子元器件,精密光學(xué)器件等，特別是當(dāng)半導(dǎo)體電子元器件、芯片等原料長(zhǎng)期暴露在高濕空氣環(huán)境中時(shí)，如果不及時(shí)采取有效的防潮措施就會(huì)導(dǎo)致元件報(bào)廢，并且非常多電子元件是半導(dǎo)體設(shè)備的**零件，這樣將會(huì)直接損壞設(shè)備，影響設(shè)備的正常使用，半導(dǎo)體生產(chǎn)行業(yè)的工廠一般的溫濕度條件為：=22±2°，=45±5%。用合理儲(chǔ)存方

• 集成電路IC卡高溫測(cè)試

  在集成電路行業(yè)大家想必都知道，集成電路IC卡在出廠之前是需要經(jīng)過高低溫測(cè)試的，來測(cè)試其在高低溫環(huán)境下的性能，集成電路 IC卡在出廠之前，一定要進(jìn)行環(huán)境測(cè)試，以此來對(duì)集成電路在不同工作環(huán)境下的性能進(jìn)行模擬，集成電路高低溫測(cè)試是依靠封裝級(jí)和晶片級(jí)集成電路**高低溫測(cè)試機(jī)，來協(xié)助廠商完成高低溫循環(huán)測(cè)試、冷熱沖擊測(cè)試、老化測(cè)試等測(cè)試。芯片的高/低溫度測(cè)試可以在一秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)恒定溫度的快速升降，且精度達(dá)到±1℃