詞條
詞條說(shuō)明
半導(dǎo)體芯片為什么需要用高低溫濕熱箱進(jìn)行試驗(yàn)檢測(cè)?
半導(dǎo)體芯片在實(shí)際應(yīng)用中常常面臨各種溫度和濕度條件,而這些條件可能對(duì)其性能、可靠性和壽命產(chǎn)生影響。因此,半導(dǎo)體制造企業(yè)會(huì)進(jìn)行高低溫濕熱試驗(yàn),這試驗(yàn)對(duì)半導(dǎo)體芯片至關(guān)重要。半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱箱的應(yīng)用在試驗(yàn)過(guò)程中起到什么樣的作用?1. 可靠性評(píng)估:高低溫濕熱試驗(yàn)可以模擬半導(dǎo)體芯片在較端環(huán)境條件下的使用情況,例如較高溫度、低溫、高濕度或濕熱環(huán)境。通過(guò)在這些條件下進(jìn)行試驗(yàn),可以評(píng)估芯片在長(zhǎng)期使用過(guò)程中的可靠
紫外光老化試驗(yàn)是一種對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行紫外光老化試驗(yàn)的試驗(yàn)方法。這個(gè)試驗(yàn)可以評(píng)價(jià)材料,涂料,以及諸如塑料,涂料,橡膠,纖維,織物等在室外使用的產(chǎn)品。紫外光老化試驗(yàn)是利用紫外光管內(nèi)的紫外光,對(duì)被測(cè)試樣進(jìn)行加速老化試驗(yàn)。輻照強(qiáng)度及試驗(yàn)時(shí)長(zhǎng)可依試驗(yàn)要求及本產(chǎn)品之設(shè)計(jì)而定。但是,經(jīng)過(guò)多長(zhǎng)時(shí)間的UV老化測(cè)試才相當(dāng)于產(chǎn)品的實(shí)際使用年限呢?這并不是一個(gè)確切的答案,因?yàn)閷?shí)際的年限取決于許多因素,例如使用環(huán)境、氣候條件、維
砂塵試驗(yàn)箱、IEC60068、MIL-STD-810F、GJB150A
產(chǎn)品名稱(chēng):砂塵試驗(yàn)箱 產(chǎn)品型號(hào): 產(chǎn)品性能: ?? 砂塵試驗(yàn)箱用來(lái)模擬自然界的砂塵環(huán)境,適用于檢驗(yàn)所**械、光學(xué)、電氣、電子、電化學(xué)和機(jī)電裝置對(duì)砂塵的適應(yīng)能力。砂塵試驗(yàn)用來(lái)評(píng)價(jià)裝備對(duì)可能阻塞開(kāi)口,滲入裂縫、軸承和接頭的灰塵抵御能力,評(píng)價(jià)過(guò)濾裝置的工作效能以及評(píng)價(jià)裝備是否能在吹砂條件下貯存和工作。 ?? 備注:內(nèi)部尺寸大小均可根據(jù)要求進(jìn)行設(shè)計(jì)。 ?
冷熱沖擊二箱試驗(yàn)箱 型號(hào) AZTS 27 2T AZTS 84 2T AZTS 157 2T AZTS 320 2T AZTS 500 2T AZTS 1000 2T 電源 交流380V 50赫茲 3相+N+PE 較大電流 25 31 39 46 67 84 最大功率 12.5 16 22 25.5 37 47.5 使用環(huán)境溫/濕度 +15~+35℃/≤85%RH 形式 兩廂式 提籃運(yùn)動(dòng)方向 垂直
公司名: 廣東宏展科技有限公司
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