詞條
詞條說(shuō)明
半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱(也稱為溫濕度循環(huán)試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等)是一種專門用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件,以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB/T 4937.42-2023 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 *42部分:溫濕度貯存主要技術(shù)參數(shù):溫度范圍: -20℃~100℃(150℃)、-40℃~100℃(
深圳市惠富康光通信有限公司選用宏展溫度循環(huán)試驗(yàn)箱!
?深圳市惠富康光通信有限公司選用宏展溫度循環(huán)試驗(yàn)箱! 深圳市惠富康光通信有限公司成立于2001年,現(xiàn)有廠房面積4600多平方米,員工600余人,是國(guó)內(nèi)光模塊用光纖插芯(Fiber stub)、陶瓷套筒(Sleeve)及插芯適配器(Receptacle)的主要生產(chǎn)基地。 ??? 經(jīng)過(guò)多年的生產(chǎn)經(jīng)營(yíng)鍛煉,我們已經(jīng)成為一支穩(wěn)定的、較富經(jīng)驗(yàn)的、能應(yīng)對(duì)各種挑戰(zhàn)、朝氣蓬
太陽(yáng)能試驗(yàn)規(guī)范列表整理 項(xiàng)目 標(biāo)準(zhǔn)號(hào) ?標(biāo)準(zhǔn)名稱 1 GB 11011-89 非晶硅太陽(yáng)能電池性能測(cè)試的一般規(guī)定 2 GB 12632-90 單晶硅太陽(yáng)能電池總規(guī)范 3 GB/T 12936.2-1991 太陽(yáng)能熱利用術(shù)語(yǔ)*二部分(Solar energy—Thermal applications—Terminology part 2) 4 GB/T 12936.1-1991 太陽(yáng)能熱
高低溫試驗(yàn)箱出現(xiàn)故障該怎么辦? 高低溫試驗(yàn)箱基本故障排除方法: 一、高低溫試驗(yàn)設(shè)備.在高溫試驗(yàn)中,如溫度變化達(dá)不到試驗(yàn)溫度值時(shí),可以檢查電器系統(tǒng),逐一排除故障。如溫度升得很慢,就要查看風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),看一下風(fēng)循環(huán)的調(diào)節(jié)擋板是否開啟正常,反之,就檢查風(fēng)循環(huán)的電機(jī) 運(yùn)轉(zhuǎn)是否正常。如溫度過(guò)沖厲害那么就需要整定PID的設(shè)置參數(shù)。如果溫度直接上升,過(guò)溫保護(hù),那么,控制器出故障,須更換控制儀表。 二、.高低溫試
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