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詞條說明
X原子熒光和原子吸收光譜儀的區(qū)別1.原子吸收光譜儀原子吸收光譜儀利用待測元素所產(chǎn)生的基態(tài)原子對其特征譜線的吸收程度來進行定量分析的方法。原子吸收光譜儀的光源是空心陰極燈,檢測的樣品是溶液。2.X射線熒光光譜儀X射線熒光光譜儀樣品可以是固體、粉末、熔融片,液體等,分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。發(fā)射源是Rh靶X光管,盡管二者都是把物質(zhì)激發(fā)后檢測其熒光,但二者的區(qū)別很大
鍍層膜厚檢測技術(shù)的關(guān)鍵要點在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量檢測領(lǐng)域,鍍層膜厚測量是一項至關(guān)重要的技術(shù)指標(biāo)。這項技術(shù)廣泛應(yīng)用于電子元器件、汽車零部件、五金制品等行業(yè),直接影響產(chǎn)品的性能和質(zhì)量。目前市場上主流的鍍層測厚技術(shù)主要分為X射線熒光法和渦流法兩種。X射線熒光法通過測量鍍層元素特征X射線的強度來確定厚度,具有非破壞性、高精度等特點,適用于多層鍍層測量。渦流法則是利用電磁感應(yīng)原理,更適合測量導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電鍍層
鍍層厚度檢測的關(guān)鍵技術(shù)與方法 鍍層厚度直接影響材料的耐腐蝕性、導(dǎo)電性和外觀質(zhì)量,精準(zhǔn)測量是工業(yè)生產(chǎn)的核心環(huán)節(jié)。目前主流的檢測技術(shù)包括X射線熒光法、渦流法和金相分析法,各有其適用場景。 X射線熒光法通過測量鍍層元素激發(fā)的特征X射線來推算厚度,適用于多層鍍層和微小區(qū)域檢測,精度可達(dá)0.01微米。但設(shè)備成本較高,且需考慮基材干擾。渦流法則利用電磁感應(yīng)原理,特別適合導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電鍍層,檢測速度快,但對
精準(zhǔn)測量背后的科技力量在工業(yè)檢測領(lǐng)域,厚度測量是質(zhì)量控制的重要環(huán)節(jié)。X熒光測厚儀憑借其*特的優(yōu)勢,成為這一環(huán)節(jié)中不可或缺的設(shè)備。X熒光測厚儀的工作原理基于X射線熒光光譜技術(shù)。當(dāng)X射線照射樣品時,樣品中的原子會被激發(fā),產(chǎn)生特征X射線熒光。通過檢測這些熒光的能量和強度,就能確定樣品的元素組成和厚度。這種非破壞性的檢測方式,使得它在工業(yè)生產(chǎn)中備受青睞。這種測厚儀較顯著的特點是測量精度高。它可以精確到納米
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
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ROHS測試儀器 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內(nèi)對樣品進行分析
ROHS有害物質(zhì)分析儀 ROHS10項檢測儀 可以在較短的時間內(nèi)對樣品進行分析
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