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X射線熒光光譜儀器是一種廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、地質(zhì)科學(xué)、環(huán)境科學(xué)、考古學(xué)等諸多領(lǐng)域的精密分析儀器。其主要工作原理是利用X射線激發(fā)樣品中的原子,使之產(chǎn)生二次輻射,即熒光,通過分析熒光的特征譜線,可以確定樣品中各種元素的存在及其含量。X射線熒光光譜儀的主要組成部分包括激發(fā)系統(tǒng)、檢測系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)。激發(fā)系統(tǒng)主要負(fù)責(zé)提供高能量的X射線,通常采用電子束加速器或X射線管。檢測系統(tǒng)則負(fù)責(zé)收集二次輻射即熒
廣州電感耦合等離子體**光譜儀的優(yōu)勢主要表現(xiàn)在以下幾個方面:1. 高靈敏度與高分辨率:廣州電感耦合等離子體**光譜儀具有極高的檢測靈敏度,可以檢測微量的元素含量,這對于許多痕量元素的分析非常有利。同時,其優(yōu)秀的分辨率也使得光譜的信噪比大大提高,降低了干擾和噪聲的影響,提高了分析的準(zhǔn)確性。2. 操作簡便:該儀器采用現(xiàn)代電子技術(shù)設(shè)計,自動化程度高,操作簡單。用戶界面友好,易于學(xué)習(xí)和使用。此外,儀器還配
北京鍍層測厚儀,作為精密測量工具,在材料科學(xué)及工業(yè)質(zhì)量控制領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用。其工作原理主要基于射線透射、磁性感應(yīng)及渦流檢測等多種技術(shù)。在射線透射法中,鍍層測厚儀利用X射線或γ射線穿透被測物體,通過測量射線在鍍層和基底材料中衰減后的強度變化,推算出鍍層的厚度。這一方法非接觸、無損,尤其適用于極薄鍍層及雙鍍層、合金鍍層的精確測量。另一方面,磁性感應(yīng)原理是鍍層測厚儀的另一種常見技術(shù)。當(dāng)磁性測頭靠近鐵磁
江蘇電感耦合等離子體原子**光譜儀(ICP-AES)作為一種高精度的無機化學(xué)成分分析儀器,在現(xiàn)代科研與工業(yè)應(yīng)用中占據(jù)著舉足輕重的地位。該儀器基于電感耦合等離子體技術(shù),通過高頻電流激發(fā)產(chǎn)生高溫、高密度的等離子體,這一過程中,樣品中的原子或離子被激發(fā)**能態(tài)。當(dāng)這些高能態(tài)的粒子回落到基態(tài)時,會釋放出特定波長的光譜。正是這些光譜的波長和強度,成為了ICP-AES進(jìn)行元素定性和定量分析的重要依據(jù)。在江蘇地
公司名: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
聯(lián)系人: 柏自新
電 話:
手 機: 15190185116
微 信: 15190185116
地 址: 江蘇蘇州昆山市*園西路1888號
郵 編:
網(wǎng) 址: tianrui2022.b2b168.com
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