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時間：2021-09-01

作者：似空科學儀器（上海）有限公司

詞條
詞條說明
無損檢測之射線檢測設(shè)備選購技巧
檢測要求檢測技術(shù)性伴隨著密度高的封裝形式技術(shù)性的發(fā)展趨勢，碰到了新的試煉。為了較好地解決新的試煉，諸多新技術(shù)應(yīng)用也持續(xù)發(fā)生，X射線檢測便是一種十分關(guān)鍵的檢測方式。根據(jù)X射線檢測可以合理的操縱BGA的電焊焊接和拼裝品質(zhì)。那麼，X射線檢測機器設(shè)備重點在于關(guān)鍵部件，購買時須要留意哪幾個方面呢？認知能力X射線射線機原理X射線探傷檢測運用X射線可以透過成分與在成分中具備損耗的特點，發(fā)覺缺欠的一種高質(zhì)量檢測方
全新產(chǎn)品Deltron車間型三坐標測量機
DELTRON專為車間使用而設(shè)計的三坐標測量機Vision Engineering與英國Aberlink攜手合作開發(fā)，生產(chǎn)全新產(chǎn)品Deltron，創(chuàng)新且較具競爭力同時具有**高性價比的車間型接觸式測量系統(tǒng)。DELTRONCNC三坐標測量機緊湊耐用精確高重復性Deltron是一款耐用、可靠并且易用的全新三坐標測量機(CMM)，采用堅實耐用的“非笛卡爾式”設(shè)計，創(chuàng)新的delta機構(gòu)，確保高水平的測量精度
Vision Engineering英國工業(yè)顯微鏡應(yīng)時處變，隨時隨地獲得專業(yè)產(chǎn)品演示
在過去這段艱難日子，Vision Engineering英國工業(yè)顯微鏡獲得了諸多客戶朋友及合作伙伴們的許多幫助和支持，在此向大家表示誠摯感謝與由衷敬意！大家辛苦了！?????以下這段視頻，希望能將我們的心意傳遞給您??????? ? ? ? 自從20
芯片分析方法
芯片分析方法1.OM 光學顯微鏡觀察，外型分析2.C-SAM（**音波掃描顯微鏡）（1）原材料里面的晶格常數(shù)構(gòu)造，殘渣顆粒物，參雜物，沉淀，（2）內(nèi)部裂痕。（3）分層次缺陷。（4）裂縫，汽泡，間隙等。3. X－Ray 檢驗IC封裝中的各種各樣缺陷如層脫離、崩裂、裂縫及其打線的一致性，PCB工藝中也許出現(xiàn)的缺陷如兩端對齊欠佳或中繼，**、短路故障或異常聯(lián)接的缺陷，封裝形式中的錫球一致性。（這幾類是