芯片研發(fā)過(guò)程中的可靠性測(cè)試有哪些

時(shí)間：2023-07-28作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：129

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 電子元器件需要要做高低溫濕熱試驗(yàn)嗎??

  ? ? ? ?在實(shí)際應(yīng)用中，電子元件往往會(huì)受到高、低溫、濕、熱等環(huán)境因素的影響。為了確保電子元件在使用過(guò)程中的可靠性，必須對(duì)其進(jìn)行高、低溫、高濕、高濕測(cè)試。? ? ? ?高、低溫、高、低溫度、高、中、低、中、高溫度、高濕度、高濕度等環(huán)境因素對(duì)器件性能的影響。該測(cè)試方法能對(duì)電子元件在不同的工作條件下的工作狀態(tài)進(jìn)行仿真，并

• 恒溫恒濕試驗(yàn)箱均勻度偏差的原因

  一臺(tái)自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)設(shè)備,包含恒溫恒濕試驗(yàn)箱所出示的自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)，務(wù)必是可觀察的和可操縱的,這不但是為了較好地使空氣質(zhì)量參數(shù)限定，在一定的容時(shí)容差范疇以內(nèi),確保實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的重現(xiàn)性和可重復(fù)性的規(guī)定,并且從商品實(shí)驗(yàn)的安全性考慮也是務(wù)必的,便于避免自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)無(wú)法控制造成被試商品的毀壞,產(chǎn)生多余的損害?，F(xiàn)階段各種各樣試驗(yàn)箱實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中，大致規(guī)定主要參數(shù)檢測(cè)的精密度不可小于實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)容許的，誤差的三分之一。溫度均勻

• 溫度沖擊試驗(yàn)箱；冷熱沖擊試驗(yàn)箱；高低溫沖擊試驗(yàn)箱概述

  溫度沖擊試驗(yàn)箱；冷熱沖擊試驗(yàn)箱；高低溫沖擊試驗(yàn)箱概述： 溫度沖擊試驗(yàn)箱；冷熱沖擊試驗(yàn)箱；高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要用于確定電工電子產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用期間可能遇到的溫度*變化的條件下的適應(yīng)性。 溫度沖擊試驗(yàn)箱；冷熱沖擊試驗(yàn)箱；高低溫沖擊試驗(yàn)箱詳細(xì)資料 用途：? 溫度沖擊試驗(yàn)箱；冷熱沖擊試驗(yàn)箱；高低溫沖擊試驗(yàn)箱適用于電子、電工產(chǎn)品和其他*設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，也是

• 高低溫試驗(yàn)箱常見(jiàn)故障及解決方案

  1、低溫降不到或無(wú)法降溫①壓縮機(jī)損壞或未開(kāi)啟，更換壓縮機(jī)及檢查控制壓縮機(jī)線路及控制元器件是否損壞②制冷劑泄漏，用氮?dú)鈾z漏法找出漏點(diǎn)，焊接，抽真空，加入制冷劑，重新調(diào)試③電磁閥動(dòng)作異常，更換電磁閥，檢查電磁閥控制線路④毛細(xì)管堵塞，更換毛細(xì)管，更換干燥過(guò)濾器，用氮?dú)獯蹈蓛衾淠到y(tǒng)雜質(zhì)，加入制冷劑調(diào)試⑤冷凝器結(jié)冰，升溫?zé)上鋬?nèi)水分，在降溫2、高低溫試驗(yàn)箱不升溫或高溫達(dá)不到①加熱管損壞(更換即可)②固態(tài)繼