廣東宏展邀您共赴*21屆訊石研討會(huì)IFOC 2022,宏展邀您共賞盛宴

時(shí)間：2022-10-11作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：91

廣東宏展科技有限公司專(zhuān)注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 功能電路板老化試驗(yàn)

  1、目的使功能板在一個(gè)具有溫度變化的熱老化設(shè)備內(nèi)，經(jīng)受空氣溫度的變化，通過(guò)高溫，低溫，高低溫變化以及電功率等綜合作用，暴露功能板的缺陷，如焊接不佳，元件參數(shù)不匹配，溫漂以及調(diào)試過(guò)程中造成的故障，以便以剔除，對(duì)無(wú)缺陷的功能板將起到穩(wěn)定參數(shù)的作用。2、檢測(cè)環(huán)境條件溫度：15~35℃相對(duì)濕度：45％~75％大氣壓力：86~106KPa3、老化前的要求3.1觀檢測(cè)：所有要老化的功能板需**行目測(cè)，對(duì)于有明

• 高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試前的準(zhǔn)備工作

  高低溫試驗(yàn)箱可以用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)，以及溫度漸變?cè)囼?yàn)，除此之外還可以對(duì)電子元器件進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)。那么高低溫試驗(yàn)箱在進(jìn)行測(cè)試前都有準(zhǔn)備工作呢?高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試前的準(zhǔn)備工作：1、確定高低溫試驗(yàn)所依據(jù)的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，若沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)可依據(jù)，可以依據(jù)相關(guān)的產(chǎn)品規(guī)范要求。2、確定高低溫試驗(yàn)的程序以及測(cè)試的條件，溫度點(diǎn)，試驗(yàn)時(shí)間等。3、確定高低溫試驗(yàn)

• 半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱常用試驗(yàn)項(xiàng)目

  半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)用于對(duì)半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評(píng)估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，可以對(duì)半導(dǎo)體芯片進(jìn)行的試驗(yàn)有以下5個(gè)：1. 高溫儲(chǔ)存測(cè)試條件：85℃±5℃持續(xù)時(shí)間：1000h2. 低溫儲(chǔ)存測(cè)試條件：-40℃±5℃持續(xù)時(shí)間：1000h3. 溫度循環(huán)測(cè)試條件：-40℃～85℃持續(xù)時(shí)間：200

• 高低溫濕熱試驗(yàn)箱常見(jiàn)問(wèn)題整理

  高低溫濕熱試驗(yàn)箱常見(jiàn)問(wèn)題整理???? 說(shuō)明：? ???整理與介紹目前環(huán)境試驗(yàn)當(dāng)中，使用者在使用環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備，以及對(duì)于規(guī)范的要求常遇見(jiàn)的問(wèn)題與迷失，若您有下述相關(guān)問(wèn)題歡迎您與業(yè)務(wù)部聯(lián)系，我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)。?? 環(huán)境試驗(yàn)的正確擺設(shè)方式？? 說(shuō)明：待測(cè)品擺放于機(jī)臺(tái)測(cè)試區(qū)當(dāng)中，怎么樣擺設(shè)才是正確