分析X-RAY鍍層測厚儀的工作原理及特點(diǎn)

時間：2022-06-11作者：蘇州實譜儀器有限公司瀏覽：379

蘇州實譜儀器有限公司專注于手持式光譜儀,X熒光光譜儀,rohs檢測儀器等

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  詞條說明

• X光鍍層測厚儀是采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測厚的

  ? ? ? X光鍍層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度，以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層的厚度。本儀器具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點(diǎn)，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量的檢測儀器。儀器廣泛運(yùn)用于工業(yè)生產(chǎn)測厚中，包含鋼板厚度、卷皮帶厚度等，當(dāng)然在實驗室精細(xì)測量中也有運(yùn)用，包含航空航天、科研開發(fā)等范疇。? ? ? X光鍍層測

• 詳細(xì)解析x熒光鍍層測厚儀的應(yīng)用和性能

  ? x熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進(jìn)行電鍍液的成分和濃度測定。? ? ? x熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會**出各自特征的X射線，不同的元素有不同的特征X射線、探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號

• X光鍍層測厚儀使用性能特點(diǎn)有哪些？

  ? ? ? X光鍍層測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。 X光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的

• X光鍍層測厚儀在日常作業(yè)中都應(yīng)用了哪些原理？

  ? ? ? X光鍍層測厚儀是一種用于查看物體厚度的儀器儀表。在工業(yè)生產(chǎn)測厚中廣泛運(yùn)用。這類儀器，根據(jù)其測量辦法的不一樣，大致可以劃分為以下幾個種類：運(yùn)用嶸湎?、馍渚€、y射線穿透特性的放射性厚度計；選用超聲波頻率改動的超聲波厚度計以及選用渦流原理的電渦流厚度計；還有電容式厚度計等。? ? ? 此外，運(yùn)用微波和激光技術(shù)制成厚度計，現(xiàn)在還處在研