詞條
詞條說明
? ? ? X光鍍層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度,以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層的厚度。本儀器具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點,是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量的檢測儀器。儀器廣泛運用于工業(yè)生產(chǎn)測厚中,包含鋼板厚度、卷皮帶厚度等,當(dāng)然在實驗室精細(xì)測量中也有運用,包含航空航天、科研開發(fā)等范疇。? ? ? X光鍍層測
有關(guān)x射線鍍層測厚儀的系統(tǒng)結(jié)構(gòu),以下有詳細(xì)解說
? ? ? x射線鍍層測厚儀采用內(nèi)置探頭一體化設(shè)計、抗干擾技術(shù)、數(shù)字顯示,具備機型小巧、操作簡捷、待機時間長等特點;且具有自動關(guān)機、欠電指示、統(tǒng)計、系統(tǒng)/零點/兩點校準(zhǔn)功能。它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。該儀器廣泛應(yīng)用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。x射線鍍層測厚儀的系統(tǒng)構(gòu)成如下: 1、
? ? ? X光鍍層測厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù),X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子,出現(xiàn)殼層空穴,當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時,就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。 X光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的*二次X射線的
? ? ? ?x熒光鍍層測厚儀使用高效而實用的正比計數(shù)盒和電制冷探測器,以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求,且的較具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計,使儀器操作較人性化、較方便。 工作原理: x熒光鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W
公司名: 蘇州實譜儀器有限公司
聯(lián)系人: 孫經(jīng)理
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手 機: 18860927557
微 信: 18860927557
地 址: 江蘇蘇州蘇州市干將西路399號205
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網(wǎng) 址: shipuyiqi888.b2b168.com
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