X光鍍層測(cè)厚儀是采用磁性和渦流兩種方法進(jìn)行測(cè)厚的

時(shí)間：2022-06-12作者：蘇州實(shí)譜儀器有限公司瀏覽：423

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• X光鍍層測(cè)厚儀使用性能特點(diǎn)有哪些？

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特征信息。 X光鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的

• 分享一些有關(guān)“X光鍍層測(cè)厚儀”的使用特點(diǎn)

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的必要手段。為使產(chǎn)品化，我國(guó)出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)鍍層厚度有了明確要求。X射線是無接觸無損測(cè)量，測(cè)量范圍較小，X射線法可測(cè)較薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。X射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用X射線鍍層測(cè)厚儀 向微型、

• x熒光鍍層測(cè)厚儀在使用上擁有諸多優(yōu)勢(shì)

  ? ? ? ?x熒光鍍層測(cè)厚儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層厚度測(cè)量的要求，且的較具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作較人性化、較方便。 工作原理： x熒光鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的*二次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W

• X光鍍層測(cè)厚儀在日常作業(yè)中都應(yīng)用了哪些原理？

  ? ? ? X光鍍層測(cè)厚儀是一種用于查看物體厚度的儀器儀表。在工業(yè)生產(chǎn)測(cè)厚中廣泛運(yùn)用。這類儀器，根據(jù)其測(cè)量辦法的不一樣，大致可以劃分為以下幾個(gè)種類：運(yùn)用嶸湎摺⑩射線、y射線穿透特性的放射性厚度計(jì)；選用超聲波頻率改動(dòng)的超聲波厚度計(jì)以及選用渦流原理的電渦流厚度計(jì)；還有電容式厚度計(jì)等。? ? ? 此外，運(yùn)用微波和激光技術(shù)制成厚度計(jì)，現(xiàn)在還處在研