示波器測(cè)試與協(xié)議分析儀測(cè)試的區(qū)別

時(shí)間：2025-07-29作者：深圳市歐奧電子科技有限公司瀏覽：10

深圳市歐奧電子科技有限公司專注于儀器儀表,電子元器件,測(cè)試系統(tǒng)等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• I3C CTS （Conformance Testing Suite）一致性測(cè)試套件 如何測(cè)試 I3C 器件的互作性或一致性測(cè)試？

  I3C協(xié)議勢(shì)頭強(qiáng)勁，將成為汽車、數(shù)據(jù)中心和許多其他應(yīng)用的主流技術(shù)。市場(chǎng)上出貨的 I3C 接口半導(dǎo)體數(shù)量在過(guò)去 3 年中增長(zhǎng)了 3 倍，預(yù)計(jì)未來(lái)十年增長(zhǎng)將翻一番。隨著具有 I3C 接口的半導(dǎo)體芯片的增長(zhǎng)，傳感器和 eeprom 等設(shè)備也需要支持或遷移到 I3C 協(xié)議。遷移到I3C 接口將使設(shè)備能夠發(fā)送較高的性能以及較好的控制和配置。以下是遷移到 I3C 接口的一些主要優(yōu)勢(shì)·??&

• 調(diào)試eMMC啟動(dòng)失?。菏褂?PGY-SSM 捕獲和分析啟動(dòng)數(shù)據(jù)

  嵌入式系統(tǒng)依靠其eMMC存儲(chǔ)中**的啟動(dòng)序列來(lái)加載固件并將控制權(quán)移交給應(yīng)用程序代碼。然而，錯(cuò)誤配置的分區(qū)、損壞的啟動(dòng)數(shù)據(jù)或意外的?eMMC?響應(yīng)可能會(huì)破壞此過(guò)程，導(dǎo)致難以使用標(biāo)準(zhǔn)工具診斷的靜默故障。 借助?PGY-SSM SD/SDIO/eMMC協(xié)議分析儀，您可以實(shí)時(shí)捕獲整個(gè)啟動(dòng)交互，準(zhǔn)確查明問(wèn)題所在，并可視化關(guān)鍵協(xié)議事件，而*中斷被測(cè)設(shè)備。為什么eMMC啟動(dòng)失敗難

• 使用SPMI協(xié)議分析儀檢測(cè)PMIC焊接問(wèn)題有哪些注意事項(xiàng)

  使用SPMI協(xié)議分析儀檢測(cè)焊接問(wèn)題時(shí)，需兼顧硬件連接的可靠性、信號(hào)分析的準(zhǔn)確性和調(diào)試邏輯的嚴(yán)謹(jǐn)性，避免因操作不當(dāng)導(dǎo)致誤判或遺漏問(wèn)題。以下是關(guān)鍵注意事項(xiàng)：一、硬件連接與探針設(shè)置：避免“檢測(cè)工具引入新問(wèn)題”探針接觸必須可靠，排除“假陽(yáng)性”干擾焊接問(wèn)題的**是“物理連接異常”，若分析儀探針與SPMI引腳接觸不良（如探針未壓緊、探針頭氧化），會(huì)導(dǎo)致信號(hào)捕獲失真（如波形毛刺、信號(hào)丟失），易被誤判為焊接問(wèn)題。

• 了解 I2C 通信中的時(shí)鐘拉伸以及 PGY-I2C-EX-PD 如何簡(jiǎn)化調(diào)試

  了解 I2C 通信中的時(shí)鐘拉伸以及 PGY-I2C-EX-PD 如何簡(jiǎn)化調(diào)試?在現(xiàn)代嵌入式系統(tǒng)中，設(shè)備之間的高效通信至關(guān)重要，尤其是在使用I2C（內(nèi)部集成電路）等協(xié)議時(shí)。確保快速主服務(wù)器和較慢從服務(wù)器之間平滑數(shù)據(jù)傳輸?shù)年P(guān)鍵機(jī)制之一是 clock stretch。本博客探討了 clock stretching 的重要性、工程師面臨的挑戰(zhàn)以及 PGY-I2C-EX-PD 工具如何提供有效的解