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Prodigy宣布推出PCIe Gen5協(xié)議分析儀
總部位于印度班加羅爾的Prodigy Technovations 在2024 年7 月25 日 宣布推出其PGY-PCIeGen5-PA、PCIe Gen5 協(xié)議分析儀。這種**的解決方案使工程師能夠以高達(dá) 32GT/s 的速度無縫捕獲、解碼和分析 PCIe Gen5 流量,從而加速高速 PCIe 接口的開發(fā)和驗(yàn)證。“PGY-PCIeGen5-PA?代表了 PCIe 協(xié)議分析的進(jìn)步,”P
Prodigy發(fā)布本新的PCI Express Gen4.0 X4 總線協(xié)議分析儀(Protocol Analyzer )測試解決方案__OIOSYS
Prodigy PGY-PCIe Gen4-PA 是一臺(tái)可以支持到PCIe GEN 4的協(xié)議分析儀。PCIe設(shè)計(jì)和測試工程師可以輕易的用其來抓取和記錄速度高達(dá)2.5、5.0、8 以及16GT/s的數(shù)據(jù)流的特定時(shí)間,并可以將即時(shí)的錯(cuò)誤出來。此工具可以讓設(shè)計(jì)和測試工程師減少開發(fā)時(shí)間,以及16GT/s的數(shù)據(jù)流的特定時(shí)間,并可以將即時(shí)的錯(cuò)誤出來。此工具可以讓設(shè)計(jì)和測試工程師減少開發(fā)時(shí)間,以及減少調(diào)試時(shí)間
如何使用SPMI協(xié)議分析儀檢測PMIC板子焊接問題
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測焊接問題,**是通過信號(hào)完整性分析和協(xié)議交互異常定位來反向推斷硬件連接缺陷。以下是具體操作步驟和關(guān)鍵方法:一、硬件連接與環(huán)境準(zhǔn)備1.?物理連接驗(yàn)證o?探針配置:將分析儀的差分探針(如SCLK、SDATA、GND)正確連接到PMIC和主處理器的SPMI引腳,確保探針與焊盤緊密接觸。若焊接存在虛焊,探針接觸不良可能導(dǎo)致信號(hào)丟失或誤判。o?電源與地
Prodigy測試解決方案,適合 ASIC、SoC、AI 芯片等多種類型的芯片項(xiàng)目
印度Prodigy Technovations是MIPI和JEDEC 標(biāo)準(zhǔn)的貢獻(xiàn)成員,也是目前全世界排名**的UFS/UniPro協(xié)議分析儀(Analyzer)及訓(xùn)練器(Exerciser)的測試廠商,為復(fù)雜的系統(tǒng)級(jí)芯片(SoC)設(shè)計(jì)的半導(dǎo)體客戶提供**和快速的測試解決方案。Prodigy**的測試解決方案,適合 ASIC、SoC、AI 芯片等多種類型的芯片項(xiàng)目,尤其適用于對(duì)驗(yàn)證效率和接口靈活性有
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機(jī): 18588455974
微 信: 18588455974
地 址: 廣東深圳龍華區(qū)昌盛科技大廈503
郵 編:
網(wǎng) 址: qiuxiangchen.b2b168.com
Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀
Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy SD、eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀
歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡
歐奧一鍵式全自動(dòng)進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料
歐奧原子級(jí)分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
手 機(jī): 18588455974
電 話: 19926571623
地 址: 廣東深圳龍華區(qū)昌盛科技大廈503
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