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如何使用SPMI協(xié)議分析儀檢測PMIC板子焊接問題
使用SPMI協(xié)議分析儀檢測焊接問題,**是通過信號(hào)完整性分析和協(xié)議交互異常定位來反向推斷硬件連接缺陷。以下是具體操作步驟和關(guān)鍵方法:一、硬件連接與環(huán)境準(zhǔn)備1.?物理連接驗(yàn)證o?探針配置:將分析儀的差分探針(如SCLK、SDATA、GND)正確連接到PMIC和主處理器的SPMI引腳,確保探針與焊盤緊密接觸。若焊接存在虛焊,探針接觸不良可能導(dǎo)致信號(hào)丟失或誤判。o?電源與地
Prodidy Technovations 推出用于SD卡和eMMC設(shè)備的 AC/DC電氣驗(yàn)證解決方案
Prodigy Technovations Pvt. Ltd,總部位于班加羅爾,推出了其 PGY-SSM-EV-Tester SD、eMMC AC/DC 電氣驗(yàn)證測試儀,用于UHS-I和eMMC for HS400(eMMC5.1)規(guī)范的SD卡的電氣特性。這種創(chuàng)新的解決方案使驗(yàn)證工程師能夠通過單擊按鈕來測試SD卡和eMMC器件的不同作模式,并表征 100 多種電氣和時(shí)序規(guī)格,從而節(jié)省大量驗(yàn)證時(shí)間。
了解 I2C 通信中的時(shí)鐘拉伸以及 PGY-I2C-EX-PD 如何簡化調(diào)試
了解 I2C 通信中的時(shí)鐘拉伸以及 PGY-I2C-EX-PD 如何簡化調(diào)試?在現(xiàn)代嵌入式系統(tǒng)中,設(shè)備之間的高效通信至關(guān)重要,尤其是在使用I2C(內(nèi)部集成電路)等協(xié)議時(shí)。確??焖僦鞣?wù)器和較慢從服務(wù)器之間平滑數(shù)據(jù)傳輸?shù)年P(guān)鍵機(jī)制之一是 clock stretch。本博客探討了 clock stretching 的重要性、工程師面臨的挑戰(zhàn)以及 PGY-I2C-EX-PD 工具如何提供有效的解
歐奧電子代理的Prodigy FS 協(xié)議分析器(PGY-UFS3.X-PA) 是具有多種功能的協(xié)議分析器,用于捕獲和調(diào)試主機(jī)與被測設(shè)計(jì)之間的通信。 PGY-UFS3.X-PA, UFS 協(xié)議分析儀是同類中基于**的分析儀,可在 MPHY、UniPro 和 UFS 協(xié)議層中捕獲和調(diào)試數(shù)據(jù)。 它允許對(duì) UFS 層、UniPro 層和 MPHY 層進(jìn)行即時(shí)解碼,并靈活地將這些協(xié)議層中的解碼數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)起來
公司名: 深圳市歐奧電子科技有限公司
聯(lián)系人: 鄭陽燕
電 話: 19926571623
手 機(jī): 18588455974
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地 址: 廣東深圳龍華區(qū)昌盛科技大廈503
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Prodigy UHS-II 協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器,歐奧電子供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
100BASE-T1汽車以太網(wǎng)協(xié)議分析儀
Prodigy I3C協(xié)議分析儀及訓(xùn)練器 歐奧電子供應(yīng)用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy SD、eMMC AC/DC 測試儀, 歐奧電子OIOSYS供應(yīng)可用于芯片測試驗(yàn)證
Prodigy PGY-LA Multi I3C協(xié)議分析儀 邏輯分析儀
歐奧MS100材料電子納米器件掃描探針顯微鏡
歐奧一鍵式全自動(dòng)進(jìn)樣 納米MS100掃描探針顯微鏡適用半導(dǎo)體材料
歐奧原子級(jí)分辨率 納米MS100原子力顯微鏡/AFM適用納米器件
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