高低速風洞環(huán)境模擬風洞實驗室

時間：2016-12-23作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：527

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

• 詞條

  詞條說明

• 電子元器件主要的檢測項目

  電子元器件主要有三類檢測項目：1.常規(guī)測試主要測試電子元器件的外觀、尺寸、電性能、安全性能等；根據(jù)元器件的規(guī)格書測試基本參數(shù)，如三極管，要測試外觀、尺寸、ICBO、VCEO、VCES、HFE、引腳拉力、引腳彎曲、可焊性、耐焊接熱等項目，部分出口產(chǎn)品還要測試RoHS。2.可靠性測試主要測試電子元器件的壽命和環(huán)境試驗；根據(jù)使用方的要求和規(guī)格書的要求測試器件的壽命及各種環(huán)境試驗，如三極管，要進行高溫試驗

• NANO科技(北京)有限公司選用宏展高溫試驗箱、精密烘箱等環(huán)境試驗設(shè)備！

  NANO科技(北京)有限公司選用宏展高溫試驗箱、精密烘箱等環(huán)境試驗設(shè)備！ SiFotonics Technologies Co., Ltd. 成立于2006年底，目前投資額近5000萬美元，公司在波士頓、北京、上海分別設(shè)立了研發(fā)中心，現(xiàn)有員工約100余人。SiFotonics**技術(shù)團隊匯集了來自MIT、*大學、復旦大學的多名業(yè)界精英，投身于硅基光電產(chǎn)品*技術(shù)的開發(fā)與應(yīng)用。NANO科技（北京

• 芯片研發(fā)過程中的可靠性測試有哪些

  一、芯片可靠性測試比常見的幾種試驗：加速測試：在半導體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數(shù)情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會改變觀察時間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額”。高加速測試是基于 JEDEC 的資質(zhì)認證測試的關(guān)鍵部分。溫度循環(huán)：根據(jù) JED22-A104 標準，溫度循環(huán) (TC) 讓部件經(jīng)受較端高溫和低溫之間的轉(zhuǎn)換。進行該測試時，將部件反復暴露

• 老化三要素

  光照、高溫和潮濕，這三個因素會造成材料的老化損害，同時也是日常中設(shè)備經(jīng)常會接觸到的元素，它們往往同時發(fā)生作用，所造成的危害將大于其中任一因素的單獨作用。1、光照不同材料對光的敏感性不同。對于經(jīng)久耐用的材料，如大多數(shù)涂料、塑料、紫外線的短波段是引起大部分聚合老化的原因。然而，對于不是那么經(jīng)久耐用的材料，比如一些顏料和染料，紫外線 的長波段甚至可見光也會使其產(chǎn)生嚴重的才華。2、高溫當溫度升高時，光的破