快速溫變試驗箱的設(shè)備特點介紹

時間：2016-12-03作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：154

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

• 詞條

  詞條說明

• AEC-Q101認證標準簡介

  ? ? ? AEC-Q101即基于失效機制的分立半導體應(yīng)用測試認證規(guī)范。? ? ? 現(xiàn)如今，半導體分立器件被廣泛應(yīng)用到消費電子、計算機及外設(shè)、網(wǎng)絡(luò)通信、汽車電子、LED顯示屏等領(lǐng)域，而汽車領(lǐng)域是**半導體分立器的主要應(yīng)用市場。隨著汽車電子朝著智能化、信息化、網(wǎng)絡(luò)化方向發(fā)展，新能源汽車的產(chǎn)銷爆發(fā)性增長，半導體分立器件在汽車電子產(chǎn)品中的應(yīng)用呈

• UL2054安全標準的電性能測試

  1.短路試驗:每個測試電池樣品正、負極采取阻值<0.1QCu 線短接，電池放電直至起火或爆炸，或直至電池完全放電，殼體溫度重新降至室溫停止。試驗在室溫和60士2℃進行，電池在室溫或60℃±2℃達成和環(huán)境平衡穩(wěn)定后再短接。除非制造商指明是串聯(lián)或并聯(lián)，電池應(yīng)單獨測試。對于串聯(lián)或并聯(lián)應(yīng)用，另外五套電池需進行測試，采取電池zui大數(shù)目依據(jù)所用串/并聯(lián)數(shù)目定。當電池中有過流或熱保護裝置時且已經(jīng)過UL認

• 芯片研發(fā)過程中的可靠性測試有哪些

  一、芯片可靠性測試比常見的幾種試驗：加速測試：在半導體器件中，常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數(shù)情況下，加速測試不改變故障的物理特性，但會改變觀察時間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額”。高加速測試是基于 JEDEC 的資質(zhì)認證測試的關(guān)鍵部分。溫度循環(huán)：根據(jù) JED22-A104 標準，溫度循環(huán) (TC) 讓部件經(jīng)受較端高溫和低溫之間的轉(zhuǎn)換。進行該測試時，將部件反復暴露

• 溫度循環(huán)實驗箱壓縮機排氣與吸入壓力問題

  一、溫度循環(huán)實驗箱壓縮機排氣壓力過高：毛病緣由1、系統(tǒng)中有大量空氣不凝性氣體2、風冷式冷凝器積灰太厚3、系統(tǒng)中制冷劑量太多4、排氣管閥門未開足；掃除辦法1、放空氣；宏展維修人員擔任處置2、清冷凝器；運用單位管理人員擔任處置3、把多余的制冷劑從系統(tǒng)中放出；本公司維修人員擔任處置4、開足有關(guān)閥門；維修人員擔任處置；二、溫度循環(huán)實驗箱壓縮機排氣壓力過低：毛病緣由1、系統(tǒng)中的制冷劑量缺乏；2、壓縮機排氣閥