ICP光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

時(shí)間：2024-12-07作者：鋼研納克江蘇檢測(cè)技術(shù)研究院有限公司瀏覽：143

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• ICP全譜像數(shù)尺寸

  ICP全譜像數(shù)尺寸是衡量電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）性能優(yōu)劣的關(guān)鍵指標(biāo)之一，它直接關(guān)系到儀器的分辨率、掃描波長(zhǎng)范圍以及分析精度等多個(gè)方面。以下將對(duì)ICP全譜像數(shù)尺寸進(jìn)行簡(jiǎn)要概述。首先，從分辨率這一核心參數(shù)來(lái)看，ICP全譜像數(shù)尺寸的提升意味著儀器能夠更精確地識(shí)別和分析樣品中的元素成分。例如，現(xiàn)代先進(jìn)的ICP光譜儀，如某些型號(hào)的儀器，其分辨率已達(dá)到極高水平，能夠清晰地區(qū)分樣品中微量元素

• xrf光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

  X射線熒光光譜儀（XRF）作為一種快速、非破壞性的物質(zhì)測(cè)量方法，其應(yīng)用領(lǐng)域廣泛且深入，對(duì)多個(gè)行業(yè)的發(fā)展起到了重要的推動(dòng)作用。以下是對(duì)XRF光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域的簡(jiǎn)要概述。在地質(zhì)勘探領(lǐng)域，XRF光譜儀成為分析巖石、礦物和沉積物中主要及微量元素的重要工具。由于其樣品制備簡(jiǎn)單、成本低廉，且能夠提供相對(duì)無(wú)損的化學(xué)分析，XRF光譜儀在地質(zhì)學(xué)家和礦業(yè)工程師中備受青睞。通過(guò)對(duì)地質(zhì)樣品的快速分析，XRF光譜儀能夠幫助確

• 直讀光譜儀的原理是什么？

  直讀光譜儀采用原子發(fā)射光譜學(xué)的分析原理，樣品經(jīng)過(guò)電弧或火花放電激發(fā)成原子蒸汽，蒸汽中原子或離子被激發(fā)后產(chǎn)生發(fā)射光譜，發(fā)射光譜經(jīng)光導(dǎo)纖維進(jìn)入光譜儀分光室色散成各光譜波段，根據(jù)每個(gè)元素發(fā)射波長(zhǎng)范圍，通過(guò)光電管測(cè)量每個(gè)元素的最佳譜線，每種元素發(fā)射光譜譜線強(qiáng)度正比于樣品中該元素含量，通過(guò)內(nèi)部預(yù)制校正曲線可以測(cè)定含量，直接以百分比濃度顯示。?

• 火花直讀光譜儀和手持式光譜儀有哪些區(qū)別

  人們常常把手持式光譜儀與火花直讀光譜儀混淆，實(shí)際上，兩個(gè)在原理上有本質(zhì)的不同。手持式光譜儀工作原理：當(dāng)一束帶有足夠能量的X射線打在樣品表面原子殼內(nèi)層的電子上，這個(gè)X射線束是由手持式光譜儀內(nèi)的X射線管產(chǎn)生的，這個(gè)X射線束從手持式光譜儀前底端射出。X射線束打在樣品表面的原子殼上，電子被激發(fā)后從原子殼內(nèi)層軌道發(fā)生位移，這種位移的發(fā)生是由于從分析儀發(fā)出的X-射線束與在適當(dāng)?shù)能壍辣３蛛娮咏Y(jié)合能發(fā)出的能量差；