詞條
詞條說(shuō)明
一六儀器生產(chǎn)的XTU系列光譜測(cè)厚儀具有哪些性能優(yōu)勢(shì)?
X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer-XRF)是一種通過(guò)X射線激發(fā)樣品中元素的特征X熒光射線,探測(cè)其光子能量和數(shù)量來(lái)進(jìn)行定性、定量分析,來(lái)實(shí)現(xiàn)快速、無(wú)損檢測(cè)的分析儀器。江蘇一六儀器有限公司一直專注于光譜測(cè)厚儀的研發(fā)和生產(chǎn),近些年服務(wù)了眾多客戶,獲得了一直**。今天就跟著光譜測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器來(lái)了解一下XTU系列的光譜測(cè)厚儀吧。XTU系列光譜測(cè)厚儀,采
光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面的應(yīng)用介紹
貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素(釕、銠、鈀、鋨、銥、鉑)。貴金屬純度檢測(cè)一般依據(jù)兩項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行,國(guó)家質(zhì)檢總局發(fā)布的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18043《貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測(cè)方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來(lái)進(jìn)行貴金屬含量的無(wú)損檢測(cè)方法。目前在貴金屬制造行業(yè)已經(jīng)形成大規(guī)模使用X熒光光譜儀(XRF)來(lái)測(cè)試貴金屬含量。那光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測(cè)方面有哪些優(yōu)勢(shì)呢?今天就和光譜分析儀生產(chǎn)
光譜分析儀簡(jiǎn)稱光譜儀,是將成分復(fù)雜的復(fù)合光分解為光譜線并進(jìn)行測(cè)量和計(jì)算的科學(xué)儀器,被廣泛應(yīng)用于輻射度學(xué)分析、顏色測(cè)量、化學(xué)成份分析等領(lǐng)域,下面和一六儀器一起了解一下。光譜分析儀一般由分光系統(tǒng)、接收系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成,其工作原理是將光源發(fā)出的復(fù)色光按照不同的波長(zhǎng)分離出來(lái),配合各種光電探測(cè)器件對(duì)譜線強(qiáng)度進(jìn)行測(cè)量,獲得光譜功率(輻射)分布,再計(jì)算出色品坐標(biāo)、色溫、顯色指數(shù)、光通量、輻射通量等光色性能
能量色散X熒光光譜儀在陶瓷金屬化鍍鎳測(cè)厚領(lǐng)域的優(yōu)勢(shì)
隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,**的測(cè)量技術(shù)在工業(yè)領(lǐng)域中發(fā)揮著越來(lái)越重要的作用。能量色散X熒光光譜儀(EDXRF)作為一種強(qiáng)大的分析工具,在進(jìn)行陶瓷金屬化鍍鎳測(cè)厚方面表現(xiàn)出*特的優(yōu)勢(shì),尤其是在解決傳統(tǒng)測(cè)厚方法面臨的各種難題時(shí)。EDXRF以其非接觸性、多元素分析、*標(biāo)準(zhǔn)曲線等特點(diǎn),正逐漸成為這一領(lǐng)域的焦點(diǎn)。?1. 非接觸性測(cè)量:陶瓷作為一種脆性材料,對(duì)外界力量較為敏感。傳統(tǒng)測(cè)厚方法可能因施加壓
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機(jī): 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號(hào)
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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