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詞條說明
X射線熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。許多ROHS檢測儀器用戶大概都不太清楚儀器是基于怎樣的應(yīng)用原理來完成作業(yè)的,這就是今天我們跟著RoHS檢測儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)
X熒光光譜儀在區(qū)域地質(zhì)勘察中應(yīng)用
利用 X射線熒光光譜儀器對地質(zhì)勘察中采集的樣品粉末進行多元素測定非常,能快準(zhǔn)確、高精度地得到檢測結(jié)果。對于不同區(qū)域的地質(zhì)勘察樣品,能利用專業(yè)計算機軟件進行數(shù)據(jù)處理,提高了分析準(zhǔn)確性和效率。通常區(qū)域化測試中需要測定39種不同的元素,而X射線熒光光譜儀就能對其中的26種進行準(zhǔn)確測定。目前X射線熒光光譜儀進行測定工作流程比較完整,在結(jié)合其他化學(xué)探樣品分析方法后,多元素測定的效果很好,具有良好的經(jīng)濟效益和
能量色散X熒光光譜儀在陶瓷金屬化鍍鎳測厚領(lǐng)域的優(yōu)勢
隨著科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展,**的測量技術(shù)在工業(yè)領(lǐng)域中發(fā)揮著越來越重要的作用。能量色散X熒光光譜儀(EDXRF)作為一種強大的分析工具,在進行陶瓷金屬化鍍鎳測厚方面表現(xiàn)出*特的優(yōu)勢,尤其是在解決傳統(tǒng)測厚方法面臨的各種難題時。EDXRF以其非接觸性、多元素分析、*標(biāo)準(zhǔn)曲線等特點,正逐漸成為這一領(lǐng)域的焦點。?1. 非接觸性測量:陶瓷作為一種脆性材料,對外界力量較為敏感。傳統(tǒng)測厚方法可能因施加壓
在當(dāng)今科技飛速發(fā)展的時代,分析材料組成和結(jié)構(gòu)的需求越來越迫切。能量色散X熒光光譜儀(EDXRF)作為一項關(guān)鍵的分析技術(shù),為我們深入了解材料內(nèi)部的元素組成提供了有力工具。本文將探討EDXRF技術(shù)的原理、應(yīng)用領(lǐng)域以及其在科研和工業(yè)生產(chǎn)中的重要作用。?EDXRF技術(shù)原理?能量色散X熒光光譜儀利用X射線與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的熒光現(xiàn)象來分析材料中的元素。其原理基于X射線的特性,當(dāng)X射線入射
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機: 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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