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X熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線),激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會(huì)放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。然后,儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種
選擇是ROHS ?ROHS英文全稱為:Restriction of Hazardous Substances,中文全稱是《關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害成分的指令》,是由歐盟立法制定的一項(xiàng)強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn),于2006年7月1日開始正式實(shí)施,主要用于規(guī)范電子電氣產(chǎn)品的材料及工藝標(biāo)準(zhǔn),使之較加有利于人體健康及環(huán)境保護(hù)。該標(biāo)準(zhǔn)的目的在于消除電器電子產(chǎn)品中的鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、六價(jià)鉻(Cr
1、原理:X射線照射樣品,經(jīng)過鍍層界面,射線返回的信號(hào)發(fā)生突變,根據(jù)理論上同材質(zhì)無限厚樣品反饋回強(qiáng)度的關(guān)系推斷鍍層的厚度。理論上兩層中含有同一元素測試很困難(信號(hào)分不開)。2、XRF鍍層測厚儀:俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。功能:精密測量金屬電鍍層的厚度。應(yīng)用范圍:測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。
如何遠(yuǎn)離雙酚A危害西奈山伊坎學(xué)院和瑞典卡爾斯塔德大學(xué)的一項(xiàng)研究發(fā)現(xiàn),母親懷孕期間暴露在良好水平的26種內(nèi)分泌失調(diào)影響化合物,包括雙酚A,與7歲兒童智力得分低有關(guān),尤其是男孩。醫(yī)學(xué)實(shí)驗(yàn)表明,懷孕期間長期接觸雙酚A,即使使用量相對(duì)較低,也會(huì)使胎兒寶寶的人體脂肪含量增加,即變胖,而男嬰男性生殖器官的異常比例也會(huì)增加。此外,研究表明,如果懷孕*16周孕婦尿液中的雙酚A含量相對(duì)較高,則其兒童出生6個(gè)月后遺癥
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