膜厚儀器儀表種類應(yīng)該如何選擇

時(shí)間：2022-09-28作者：昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行瀏覽：400

昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行專注于增塑劑分析儀,手持ROHS光譜儀,手持重金屬光譜儀,ROHS重金屬光譜儀,ROHS有害元素光譜儀,ROHS鹵素檢測(cè)儀,電鍍鍍層測(cè)厚儀,膜厚測(cè)試儀,ROHS指令分析儀,江蘇ROHS2.0分析儀等, 歡迎致電 18550531168

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 手持重金屬光譜儀 手持土壤重金屬分析光譜儀

  手持重金屬光譜儀 手持土壤重金屬分析光譜儀一、應(yīng)用領(lǐng)域1、污染水、廢水中污染金屬成份、污染模式、污染邊界的迅速調(diào)查與測(cè)量。2、現(xiàn)場(chǎng)監(jiān)測(cè)RCRA所涉及的金屬和**控制的污染金屬。3、原土地、污染水、廢水、等有害物質(zhì)的現(xiàn)場(chǎng)處置較小化處理并給污染控制、補(bǔ)救方法的深度分析提供理論依據(jù)。4、因環(huán)境污染而導(dǎo)致的疾病與很多重金屬元素有關(guān)，如：癌癥(Ni, Cr)、 腎病(As, Pb)、肝病(As, Cu)、肺

• X射線熒光光譜分析在地質(zhì)分析中的應(yīng)用

  1 X射線熒光光譜儀的原理X射線熒光是一種由于原子內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化所導(dǎo)致的現(xiàn)象。眾所周知, 一個(gè)原子由原子核及核外電子組成, 若內(nèi)層電子受到足夠能量的X射線照射, 會(huì)脫離原始運(yùn)行軌道釋放出電子, 并在該電子殼層上產(chǎn)生電子空位, 此時(shí)該電子空位會(huì)被處于高能量電子殼層的電子通過(guò)自發(fā)性躍遷填補(bǔ)。由于不同電子殼層之間存在著能量差并以熒光 (二次X射線) 的形式釋放出來(lái), 而不同元素所釋放出來(lái)的二次X射線能量也

• 【ROHS有害物質(zhì)檢測(cè)儀】rohs檢測(cè)儀的性能

  rohs檢測(cè)儀的性能半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷自動(dòng)濾光片選擇多種準(zhǔn)直器自動(dòng)自由切換三重安全保護(hù)模式相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型多變量非線性回歸程序樣品腔自動(dòng)開(kāi)關(guān)軟件定位樣品平臺(tái)，較小位移 0.01 mm自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，分別針對(duì)不同樣品特別開(kāi)發(fā)測(cè)量軟件，操作界面十分友好內(nèi)置高清晰攝像頭，方便用戶隨時(shí)檢測(cè)樣品高貴時(shí)尚的外型，帶給您全新的視覺(jué)沖擊精準(zhǔn)的自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，較精確方便地調(diào)節(jié)樣品位置

• XRF鍍層測(cè)厚儀基本原理以組成

  XRF鍍層測(cè)厚儀基本原理以組成XRF指x射線光，是一種識(shí)別樣品中元素類型數(shù)量的專業(yè)技術(shù)。用于認(rèn)證所有電鍍行業(yè)范圍內(nèi)的涂層厚度和成分。其較基本的高質(zhì)量特性，加上快速測(cè)量和緊湊的平臺(tái)儀器設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)分析，及時(shí)得出結(jié)論。日立X盈光涂層測(cè)厚儀對(duì)涂層進(jìn)行分析，XRF涂層測(cè)厚儀將此信息轉(zhuǎn)換為薄厚測(cè)量值。在進(jìn)行測(cè)量時(shí)，X射線管產(chǎn)生的高效能量x射線根據(jù)焦距聚集，并直接聚集在樣品特別小的區(qū)域（該區(qū)域的大小是光