Precision Laser Scanning（LLC）多邊形掃描器現(xiàn)貨庫(kù)存

時(shí)間：2022-03-07作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：293

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• optodiode探測(cè)器問(wèn)題指南

  optodiode探測(cè)器常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法如下：美國(guó)optodiode探測(cè)器響應(yīng)時(shí)間太長(zhǎng)（時(shí)間常數(shù)太慢），第一步是檢查源強(qiáng)度。如果光源的強(qiáng)度太高（超過(guò)1mW/cm2），探測(cè)器材料將加熱到改變探測(cè)器特性的點(diǎn)。這種變化迫使探測(cè)器比最初進(jìn)行測(cè)量所需的時(shí)間更長(zhǎng)，因?yàn)榛旧咸綔y(cè)器被重新敏化，這改變了探測(cè)器的光導(dǎo)特性。對(duì)探測(cè)器性能的影響程度取決于加熱/變化區(qū)域與整個(gè)探測(cè)器表面積的比率。optodiode探測(cè)器

• 海納光學(xué)新推出一款寬波段紅外探測(cè)卡 750-2130nm

  海納新出了一款寬波段紅外探測(cè)卡，新出的型號(hào)能滿足大多數(shù)用戶的波長(zhǎng)要求。寬波段紅外探測(cè)卡打破原有國(guó)產(chǎn)紅外檢測(cè)卡波段窄的限制，將波長(zhǎng)從原有的1590nm擴(kuò)大到了2130nm。最為關(guān)鍵的一點(diǎn)是這個(gè)新款的紅外檢測(cè)卡可替代一系列國(guó)產(chǎn)紅外激光探測(cè)卡和進(jìn)口的激光可視卡，比如可以替代N-1-AC、N-1-AG、N-1-BG、N-3-AM，俄羅斯phts的IR1/IR2/IR3系列以及索雷博的VRC2、VRC5、V

• Layertec的表面光潔標(biāo)準(zhǔn)的說(shuō)明

  此文就講述了鍍膜鏡片在ISO 10110標(biāo)準(zhǔn)下的鏡片表面質(zhì)量/表面公差(Surface Form Tolerances)和表面缺陷(劃痕)/表面光潔度(Surface Imperfection Tolerances)的含義，句法分析和實(shí)例。Layertec對(duì)比了MIL標(biāo)準(zhǔn)和ISO 10110標(biāo)準(zhǔn)，最終選擇更為合適和更好理解的ISO 10110標(biāo)準(zhǔn)。Da = RMS（旋轉(zhuǎn)變異部分）上圖只顯示了三維光

• 衍射元件與光束直徑相比通光孔徑大了2.5倍

  一般衍射元件所在的光學(xué)系統(tǒng)需要調(diào)試的高斯光束既不是均勻的平面波，也不是均勻球面波，而是振幅和等相位面都在變化的高斯球面波。如下圖，當(dāng)振幅減小到中心光強(qiáng)一半時(shí)的光束直徑定義為半高全峰光束直徑D0（衍射元件光束直徑），振幅減小到中心光強(qiáng)1/e2的光束直徑定義為束腰直徑D1，D1≈1.7 D0。以束腰直徑為標(biāo)準(zhǔn)，我們定義衍射元件通光孔徑為D2，分析衍射元件通光孔徑D2對(duì)效率的影響，功率損失公式如下：由以