詞條
詞條說(shuō)明
失效分析意義及操作步驟失效分析的意義主要表現(xiàn)具體來(lái)說(shuō),失效分析的意義主要表現(xiàn)在以下幾個(gè)方面: 失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。 失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。 失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì),使之與設(shè)計(jì)規(guī)范較加吻合提供必要的反饋信息。 失效分析可以評(píng)估不同測(cè)試向量的有效性,為生產(chǎn)測(cè)試提供必要的補(bǔ)充,為驗(yàn)證測(cè)試流程優(yōu)化提供必要的信息基礎(chǔ)。失效分析主要步驟和內(nèi)容:1,
顯微鏡是許多領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備,從研究機(jī)構(gòu)到制造領(lǐng)域的不**業(yè),如電子、醫(yī)療技術(shù)及精密工程。 然而,當(dāng)涉及到觀測(cè)或微組裝任務(wù)時(shí),還沒(méi)有適用于各個(gè)應(yīng)用和行業(yè)的“萬(wàn)全之策”標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡。通常,設(shè)置檢測(cè)系統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)的起點(diǎn)是在數(shù)碼或光學(xué)設(shè)備之間進(jìn)行選擇。?2D數(shù)碼或3D光學(xué)立體——顯微鏡之間的主要區(qū)別顯微鏡主要分為兩大類(lèi):一類(lèi)是光學(xué)體視顯微鏡,大約在1673年發(fā)明,較早的雙目顯微鏡大約在1850年發(fā)明;另
**種方法接觸式測(cè)量,對(duì)于比較粗糙的,測(cè)量精度是毫米級(jí)別的零件并且不需要全尺寸檢測(cè)只需抽檢,我們可以采取傳統(tǒng)的測(cè)量?jī)x器游標(biāo)卡尺直接測(cè)量高度。這樣可以快速測(cè)量,雖測(cè)量精度不高,卻能夠滿(mǎn)足測(cè)量需求。*二種方法接觸式測(cè)量,對(duì)于測(cè)量的精度非常的高的零件,我們可以選擇一臺(tái)可增加探針的影像測(cè)量?jī)x,這就相當(dāng)于一臺(tái)小的三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,也就是我們說(shuō)的復(fù)合式影像測(cè)量?jī)x,在需要測(cè)量高度的地方,用探針取元素(點(diǎn)或者面),然
芯片開(kāi)封機(jī)的產(chǎn)品特點(diǎn)
芯片開(kāi)封機(jī)的產(chǎn)品特點(diǎn)半導(dǎo)體業(yè)的銅制程芯片越來(lái)越成為發(fā)展主流,這給失效分析中器件開(kāi)封帶來(lái)越來(lái)越高的挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)的酸開(kāi)封已經(jīng)沒(méi)有辦法完成銅制程器件的開(kāi)封,良率一般**30%。此時(shí)儀準(zhǔn)科技推出的激光開(kāi)封機(jī),給分析產(chǎn)業(yè)帶來(lái)了新的技術(shù)。產(chǎn)品特點(diǎn):1、對(duì)銅制程器件有很好的開(kāi)封效果,良率**90%。2、對(duì)環(huán)境及人體污染傷害交小,符合環(huán)保理念。3、開(kāi)封效率是普通酸開(kāi)封機(jī)臺(tái)的3~5倍。4、電腦控制開(kāi)封形狀、位置、大小
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