VISION ENGINEERING獲得全新認(rèn)證

時(shí)間：2021-08-19作者：似空科學(xué)儀器（上海）有限公司瀏覽：155

似空科學(xué)儀器（上海）有限公司專注于無(wú)損檢測(cè)設(shè)備,芯片開封機(jī),影像測(cè)量?jī)x,研磨拋光設(shè)備等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 常見芯片開封技術(shù)及儀器簡(jiǎn)介

  常見芯片開封技術(shù)及儀器簡(jiǎn)介?Wayne Zhang（似空科學(xué)儀器（上海）有限公司）2022.10.11?? ? ? ?芯片失效分析（FA, Failure Analysis）的常見方法中，包含非破壞性分析（無(wú)損檢測(cè)，如超聲波、X-RAY分析）、破壞性物理分析（有損檢測(cè)，如芯片開封/開蓋、切片制樣）、I-V電氣特性分析、EMMI微光檢測(cè)等。

• 面向具體應(yīng)用如何選擇光學(xué)測(cè)量?jī)x器（二）

  傳統(tǒng)測(cè)量系統(tǒng)和大多數(shù)傳統(tǒng)的視頻測(cè)量顯微鏡都具有共同的光學(xué)特性，包括相對(duì)較小的視場(chǎng)和較淺的焦距。傳統(tǒng)的比較器通常也有一個(gè)淺深度的焦點(diǎn)。視場(chǎng)根據(jù)屏幕大小和放大率而變化。?例如，一個(gè)14英寸的零件在比較器100x時(shí)一次只能看到零件的0.14英寸，而一個(gè)30英寸的零件在比較器10x時(shí)，一次只能看到3.0英寸。對(duì)于傳統(tǒng)的視頻測(cè)量顯微鏡和比較器來(lái)說(shuō)，視場(chǎng)相對(duì)較小，為了測(cè)量整個(gè)部分，需要進(jìn)行多級(jí)平臺(tái)移

• 自動(dòng)光學(xué)測(cè)量Smartscope之比較于傳統(tǒng)的投影儀

  大多數(shù)傳統(tǒng)的視頻測(cè)量顯微鏡具有共同的光學(xué)特性，包括相對(duì)較小的視場(chǎng)和較淺的聚焦深度。 傳統(tǒng)的比較儀通常也有一個(gè)淺深度的焦點(diǎn)。視場(chǎng)根據(jù)屏幕大小和放大率而變化，只能在二維和有限的視場(chǎng)進(jìn)行人工比對(duì)測(cè)量。?例如，一個(gè)14英寸的比較器(100x)一次只能看到零件的0.14英寸，而一個(gè)30英寸的比較儀(10x)一次只能看到零件的3.0英寸。 對(duì)于傳統(tǒng)的視頻測(cè)量顯微鏡和比較儀來(lái)說(shuō)，視場(chǎng)相對(duì)較小，為了測(cè)量

• 振動(dòng)研磨拋光機(jī)和研磨拋光

  振動(dòng)研磨拋光機(jī)和研磨拋光振動(dòng)研磨拋光機(jī)有技術(shù)專業(yè)從業(yè)工件表面光飾的專業(yè)設(shè)備，因而常被稱謂為振動(dòng)研磨光飾機(jī)。它較多用以工件的表面研磨拋光解決。由于振動(dòng)研磨拋光機(jī)其*特的，以振動(dòng)為主導(dǎo)運(yùn)動(dòng)方式開展工件表面的拋光解決，因此將它取名為振動(dòng)研磨拋光機(jī)或振動(dòng)研磨光飾機(jī)。在工件表面解決時(shí)，振動(dòng)研磨拋光機(jī)工作中器皿中，放著工件、研磨拋光耐磨材料和研磨改性劑拋光研磨液等有益于工件表面研磨拋光解決的研磨物質(zhì)，通過(guò)設(shè)備