【一鍵式影像測(cè)量?jī)x】一鍵式影像測(cè)量?jī)x的優(yōu)缺點(diǎn)

時(shí)間：2021-05-08作者：佰視特智能技術(shù)(東莞)有限公司瀏覽：823

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 【一鍵式影像測(cè)量?jī)x】一鍵式影像測(cè)量?jī)x的優(yōu)缺點(diǎn)

  優(yōu)點(diǎn)（1).測(cè)量速度較快，能在2到5秒內(nèi)完成100個(gè)以?xún)?nèi)的尺寸的繪圖、測(cè)量及公差的評(píng)價(jià)，效率是傳統(tǒng)二次元影像測(cè)量?jī)x的數(shù)十倍。(2).?避免了因測(cè)量行程增大而受到影響阿貝誤差。重復(fù)測(cè)量精度高，解決了同一個(gè)產(chǎn)品反復(fù)測(cè)量數(shù)據(jù)一致性?差的現(xiàn)象。(3).儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，不需要位移標(biāo)尺光柵尺，在測(cè)量過(guò)程中也不需要移動(dòng)工作臺(tái)，所以?xún)x器的穩(wěn)定性能很?好。(4).?由于精度標(biāo)尺

• 【三維表面形貌儀】三維光學(xué)輪廓儀的使用原理？

  三維光學(xué)輪廓儀是利用白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)研制而成的用于樣品表面微觀形貌檢測(cè)的精密儀器。它的顯著特點(diǎn)是可以達(dá)到納米級(jí)的檢測(cè)精度，并可以快速獲取被測(cè)工件表面三維形貌和數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè)，其主要用途是用于成品的質(zhì)量管理，確保良品合格率?？蓮V泛應(yīng)用于各類(lèi)精密工件表面質(zhì)量要求較高的如：半導(dǎo)體、微機(jī)電、納米材料、生物醫(yī)療、精密涂層、科研院所、航空航天等領(lǐng)域?？梢哉f(shuō)只要是微型范圍內(nèi)重點(diǎn)部位的納米級(jí)粗糙度、輪廓等參數(shù)

• 影像測(cè)量?jī)x測(cè)量工件的原理

  影像測(cè)量?jī)x測(cè)量工件的原理?影像測(cè)量?jī)x的應(yīng)用非常廣泛，既可以滿(mǎn)足被測(cè)工件的抽檢，也可進(jìn)行工件的批量檢測(cè)。那么二次元影像測(cè)量?jī)x在對(duì)工件進(jìn)行測(cè)量時(shí)， 是通過(guò)什么原理來(lái)完成的呢?二次元影像測(cè)量?jī)x對(duì)平面的測(cè)量：影像測(cè)量?jī)x的掃描可以為影像測(cè)量?jī)x評(píng)價(jià)形狀誤差和排列工件提供更多數(shù)據(jù)點(diǎn)，而影像測(cè)量?jī)x所用的時(shí)間比傳統(tǒng)的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)方法少很多。結(jié)果是影像測(cè)量?jī)x組裝的精度提高，這一點(diǎn)可在總體測(cè)量精度的提高上體現(xiàn)出來(lái)。

• 浙大科學(xué)家提出三維光學(xué)超分辨成像新方法

  近日，浙江大學(xué)光電科學(xué)與工程學(xué)院劉旭教授和匡翠方教授課題組提出了一種新穎的光學(xué)成像技術(shù)——多角度干涉顯微鏡（MAIM），實(shí)現(xiàn)了對(duì)生物體內(nèi)活細(xì)胞的多色、長(zhǎng)時(shí)程、高速和三維**分辨成像，為微管、內(nèi)質(zhì)網(wǎng)、線(xiàn)粒體和細(xì)胞膜等亞細(xì)胞器的生物動(dòng)力學(xué)分析提供了有力的研究工具。這項(xiàng)研究發(fā)表在**期刊《自然·通訊》上。 研究從諾貝爾獎(jiǎng)開(kāi)始 沈復(fù)在《浮生六記》中曾寫(xiě)道，余憶童稚時(shí)，能張目對(duì)日，明察秋毫，見(jiàn)藐小之物必細(xì)察其