詞條
詞條說(shuō)明
多路光譜儀事實(shí)上也是大伙兒常說(shuō)的PMT光譜儀,光柵尺光譜儀事實(shí)上也是大伙兒所說(shuō)的CCD全譜光譜分析儀光譜儀,前邊一種的話容量大,增加安全通道相對(duì)艱辛,而且耗費(fèi)高,CCD光譜儀屬于全譜光譜分析儀,身型小,可隨便移動(dòng),而且可以隨便增加譜線,幾乎不導(dǎo)致耗費(fèi),這也是二者簡(jiǎn)單的不一樣。各自優(yōu)點(diǎn)下面簡(jiǎn)單也簡(jiǎn)易的列舉了以下,供您參考:D全譜光譜分析儀光譜儀剖析;方便快捷增加基體和剖析元素種類(lèi)。D
手持式光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器,主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成,其特點(diǎn)是具有高的分辨率和信噪比,形狀小巧,可快速檢測(cè)分析出產(chǎn)品屬性,以數(shù)字或者趨勢(shì)圖展示,是很方便的一種儀器儀表工具。手持式光譜儀的應(yīng)用領(lǐng)域主要有:電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航空航天、地質(zhì)勘探、礦山測(cè)繪、開(kāi)采、礦石分選、礦
鍍層膜厚儀性能特點(diǎn)滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)良好的射線屏蔽作用測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)技術(shù)指標(biāo)型號(hào):Thick 800
在被測(cè)量的薄膜上垂直照射可視光,光的一部分在膜的表面反射,另一部分透進(jìn)薄膜,然后在膜與底層之間的界面反射,薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。利用白光干涉測(cè)量法的原理,它用一個(gè)寬波段的光源來(lái)測(cè)得不同波長(zhǎng)的反射數(shù)據(jù),由于反射率n和k隨薄膜的不同而變化,根據(jù)這一特性進(jìn)行曲線擬合從而求得膜厚。不同類(lèi)型材料的相應(yīng)參數(shù)通過(guò)不同的模型來(lái)描述,從而保證了不同類(lèi)型材料膜厚測(cè)量的準(zhǔn)確性。
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X熒光手持ROHS檢測(cè)儀 朝陽(yáng)包裝材料手持ROHS光譜儀 用于五金行業(yè)
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Rapid TA+專(zhuān)業(yè)型質(zhì)構(gòu)儀
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