光電直讀光譜儀對于樣件的要求

時(shí)間：2020-04-07作者：鋼研納克江蘇檢測技術(shù)研究院有限公司瀏覽：552

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• 詞條

  詞條說明

• xrf光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

  X射線熒光光譜儀（XRF）作為一種快速、非破壞性的物質(zhì)測量方法，其應(yīng)用領(lǐng)域廣泛且深入，對多個(gè)行業(yè)的發(fā)展起到了重要的推動(dòng)作用。以下是對XRF光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域的簡要概述。在地質(zhì)勘探領(lǐng)域，XRF光譜儀成為分析巖石、礦物和沉積物中主要及微量元素的重要工具。由于其樣品制備簡單、成本低廉，且能夠提供相對無損的化學(xué)分析，XRF光譜儀在地質(zhì)學(xué)家和礦業(yè)工程師中備受青睞。通過對地質(zhì)樣品的快速分析，XRF光譜儀能夠幫助確

• 火花直讀光譜儀怎么樣

  廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、金屬加工等領(lǐng)域的生產(chǎn)過程控制，中心實(shí)驗(yàn)室成品檢驗(yàn)?？捎糜贔e、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn、Ag等多種金屬及其合金樣品分析。技術(shù)參數(shù)：1.焦距:750mm2.譜線范圍:120-800nm3.激發(fā)頻率:300-1000Hz4.帕邢-龍格架法真空光學(xué)系統(tǒng)主要特點(diǎn)：1、激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料2、原位單次放電采集的專利技術(shù)

• CMOS光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

  CMOS光譜儀是一種基于CMOS傳感器技術(shù)的光譜檢測設(shè)備，具有高靈敏度、低成本、高分辨率和高動(dòng)態(tài)范圍等優(yōu)點(diǎn)，因此在多個(gè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用。下面簡要概述一下CMOS光譜儀的應(yīng)用領(lǐng)域：1. **化學(xué)分析**：CMOS光譜儀在化學(xué)分析領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。它可以用于分析各種化學(xué)物質(zhì)，如氣體、液體和固體樣品中的成分。通過CMOS光譜儀，可以測量樣品的光譜特性，進(jìn)而確定其化學(xué)組成和性質(zhì)。2. **環(huán)境監(jiān)測*

• ICP光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

  ICP光譜儀是一種廣泛應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中的儀器設(shè)備，主要用于材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、冶金學(xué)、食品科學(xué)、藥物分析等領(lǐng)域。以下是對ICP光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域的簡要概述：1. 材料科學(xué)：ICP光譜儀在材料科學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用主要集中在金屬和合金的分析。通過ICP光譜儀，科學(xué)家可以對金屬樣品進(jìn)行元素分析，從而了解材料的組成和性質(zhì)。這種分析方法可以用于研究新材料，以及評估材料的性能和可靠性。2. 環(huán)境科學(xué)：