直讀光譜儀的分析基本原理是？-星楓儀器

時(shí)間：2015-12-11作者：南昌星楓儀器有限公司瀏覽：237

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• 詞條

  詞條說(shuō)明

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  leeb451/452袖珍式粗糙度儀 該儀器適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，可測(cè)量多種機(jī)加工零件的表面粗糙度，根據(jù)選定的測(cè)量條件計(jì)算機(jī)相應(yīng)的參數(shù)，在液晶顯示器上清晰地顯示全部測(cè)量結(jié)果。 leeb451/452袖珍式粗糙度儀技術(shù)參數(shù) leeb451 leeb452 測(cè)量參數(shù) Ra、Rz、Rq、Rt Ra、Rz 測(cè)量范圍 Ra:0.05-10.0μm； Rz:0.1-50μm 取樣長(zhǎng)度 0.25mm、0.8mm、2