委托檢驗(yàn)、型式檢驗(yàn)、監(jiān)督檢驗(yàn)的區(qū)別

時(shí)間：2025-07-18作者：武漢市鑫宇環(huán)檢測(cè)技術(shù)有限公司瀏覽：246

武漢市鑫宇環(huán)檢測(cè)技術(shù)有限公司專注于光電產(chǎn)品檢測(cè),可靠性試驗(yàn),第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)等

• 詞條

  詞條說明

• 元器件的失效原因和故障檢查方法

  電子元器件在使用過程中，常常會(huì)出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障，從而影響設(shè)備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。 電子設(shè)備*部分故障，究其較終原因都是由于電子元器件失效引起的。如果熟悉了元器件的失效原因，及時(shí)定位到元器件的故障原因，就能及時(shí)排除故障，讓設(shè)備正常運(yùn)行。 ?溫度導(dǎo)致失效：元件失效的重要因素之一就是環(huán)境溫度對(duì)元器件的影響。 ?溫度變化對(duì)半導(dǎo)體器件的影響： 由于P

• 高度加速的熱沖擊測(cè)試

  長期以來，熱沖擊試驗(yàn)一直是檢查鍍通孔和焊點(diǎn)連接可靠性的公認(rèn)方法。從歷史上看，熱沖擊測(cè)試是利用雙室空氣對(duì)空氣系統(tǒng)或液體對(duì)液體系統(tǒng)進(jìn)行的。這兩種方法都在成本，時(shí)間以及必須在高溫和低溫環(huán)境之間運(yùn)輸樣品這一事實(shí)上都具有明顯的缺點(diǎn)。由于電線的長度和數(shù)量，樣品在溫度環(huán)境之間的運(yùn)輸使監(jiān)測(cè)樣品的電阻變得困難且不準(zhǔn)確。武漢沖擊振動(dòng)檢測(cè)在通常情況下與傳統(tǒng)熱沖擊方法相關(guān)的不頻繁監(jiān)視也使得對(duì)“毛刺”狀況的檢測(cè)充其量只能做

• 光電子元器件都需要做哪些可靠性測(cè)試？

  光電子元器件物理特性測(cè)試項(xiàng)目： 1、內(nèi)部水汽：確定在金屬或陶瓷封裝的光電子器件內(nèi)部氣體中水汽含量。 2、密封性：確定具有內(nèi)空腔的光電子器件封裝的氣密性。 3、ESD闊值：確定光電子器件受靜電放電作用所造成損傷和退化的靈敏度和敏感性。 4、可燃性：確定光電子器件所使用材料的可燃性。 5、剪切力：確定光電子器件的芯片和無源器件安裝在管座或其他基片上使用材料和工藝的完整性。 6、可焊性：確定需要焊接的光

• 電感可靠性測(cè)試方法與標(biāo)準(zhǔn)

  電感可靠性測(cè)試分為環(huán)境測(cè)試和物理測(cè)試兩種。 一般的SMD型電感，貼片功率電感，插件電感等都會(huì)做這樣的測(cè)試。環(huán)境測(cè)試主要測(cè)試電感的耐溫性，耐濕性，熱沖擊等；物理測(cè)試主要是測(cè)試電感的強(qiáng)度，可焊性，再流焊，跌落，碰撞等。 一、電感可靠性測(cè)試之環(huán)境測(cè)試 MIL-STD-202G Method 108A 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 1.無明顯的外觀缺陷 2.感值變化不**過10% 3.品質(zhì)因數(shù)變化不**過30% 4.直流電阻