無塵烘箱的防爆方法

時間：2023-07-29

作者：廣東宏展科技有限公司

詞條
詞條說明
寬溫工業(yè)平板電腦高低溫環(huán)境測試方法及標準
很多工業(yè)控制場景下，對工控平板電腦、工控一體機、觸摸屏的環(huán)境適應性，特別是溫度的適應性要求較高。那么今天給大家介紹一下工業(yè)平板電腦、工控一體機等的高低溫環(huán)境測試方法及標準：1、高溫運行測試（1）測試前先對整機基本功能進行測試，檢查外觀結構正常。研維工程師按照MIL-STD-810G方法501.5高溫過程，整機處于工作狀態(tài)，以正常位置放入試驗箱內，溫度設置60℃，連接適配器跑本地1080P視頻運行
電動汽車用動力蓄電池的檢驗項目與安全要求
GB/T31485-2015標準規(guī)定了電動汽車用動力蓄電池的安全要求、實驗方法和檢驗規(guī)則。適用于電動汽車的鋰離子蓄電池和金屬氫化物鎳氫電池單體和模塊。單體蓄電池室直接化學能轉換為電能的基本單元裝置，包括電極、隔膜、電解質、外殼和端子，并被設計成可充電。蓄電池模塊是指將一個以上的單體蓄電池串聯(lián)、并聯(lián)方式組成且只有一對正負極輸出端子，并作為電源使用的組合體。1.檢驗項目單體蓄電池/蓄電池模塊試驗程序序
紫外線老化測試多久相當于使用一年
紫外光老化試驗是一種對產(chǎn)品進行紫外光老化試驗的試驗方法。這個試驗可以評價材料，涂料，以及諸如塑料，涂料，橡膠，纖維，織物等在室外使用的產(chǎn)品。紫外光老化試驗是利用紫外光管內的紫外光，對被測試樣進行加速老化試驗。輻照強度及試驗時長可依試驗要求及本產(chǎn)品之設計而定。但是，經(jīng)過多長時間的UV老化測試才相當于產(chǎn)品的實際使用年限呢？這并不是一個確切的答案，因為實際的年限取決于許多因素，例如使用環(huán)境、氣候條件、維
冷熱沖擊試驗箱可用于半導體芯片的測試
芯片(chip)，又稱微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設備中*重要的部分，承擔著運算和存儲的功能。?????溫度的改變對半導體的導電能力、極限電壓、極限電流以及開關特性以及開關特性等都有很大的影響。當溫度過高時元器件體積發(fā)生