高低溫試驗(yàn)箱的正確運(yùn)輸和放置方法?

時(shí)間：2023-07-21作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：76

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說明

• 芯片高低溫測(cè)試所需設(shè)備參數(shù)及標(biāo)準(zhǔn)

  芯片高低溫測(cè)試設(shè)備性能指標(biāo)保護(hù)措施： 1、可靠的接地保護(hù)裝置 2、電源欠壓，缺相保護(hù) 3、獨(dú)立工作室**溫保護(hù) 4、保護(hù)制冷機(jī)**壓、過載、油壓欠壓； 5、加熱器短路，過載保護(hù) 6、漏電保護(hù)，報(bào)警聲訊提及 芯片高低溫測(cè)試設(shè)備規(guī)格型號(hào)及技術(shù)參數(shù)：1.?溫度范圍：-20~+150℃/-40~+150℃/-50~+150℃/-60~+150℃/-85~+150℃。 2.控制穩(wěn)定性：±0.5℃ 3.

• PCB的環(huán)境測(cè)試有哪些類型

  高加速試驗(yàn)加速試驗(yàn)包括高加速壽命試驗(yàn)(HALT)和高加速應(yīng)力篩檢(HASS)。這些測(cè)試評(píng)估產(chǎn)品在受控環(huán)境下的可靠性，包括高溫、高濕和設(shè)備通電時(shí)的振動(dòng)/沖擊測(cè)試。目標(biāo)是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的條件。在測(cè)試期間，產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行監(jiān)控。電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)通常包括在一個(gè)小的環(huán)境室中進(jìn)行試驗(yàn)。濕度和腐蝕許多PCB將部署在潮濕的環(huán)境中，因此PCB可靠性的常見測(cè)試是吸水測(cè)試。在這種類型的測(cè)試中，PCB在

• 三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱的操作流程講解

  三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測(cè)試工具。?下面讓我們來了解一下三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱的操作流程

• 半導(dǎo)體芯片產(chǎn)品貯存環(huán)境指南

  ?多數(shù)半導(dǎo)體電子元器件都需要在干燥條件下作業(yè)和存放，潮濕的環(huán)境會(huì)腐蝕損壞各類敏感的半導(dǎo)體電子元器件,精密光學(xué)器件等，特別是當(dāng)半導(dǎo)體電子元器件、芯片等原料長(zhǎng)期暴露在高濕空氣環(huán)境中時(shí)，如果不及時(shí)采取有效的防潮措施就會(huì)導(dǎo)致元件報(bào)廢，并且非常多電子元件是半導(dǎo)體設(shè)備的**零件，這樣將會(huì)直接損壞設(shè)備，影響設(shè)備的正常使用，半導(dǎo)體生產(chǎn)行業(yè)的工廠一般的溫濕度條件為：=22±2°，=45±5%。用合理儲(chǔ)存方