非飽和加速壽命試驗(yàn)箱

時(shí)間：2023-06-07作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：137

廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 光纖在高低溫測(cè)試中的變化

  有試驗(yàn)結(jié)果表明，在連續(xù)冷卻試驗(yàn)中，光纖在-55℃以下，光纖的損耗增加，尤其是在-60℃以下，損耗較是顯著增加，不能滿足實(shí)際應(yīng)用的需要。在連續(xù)升溫測(cè)試中（-70~-55℃）,光纖損耗均有所下降，這表明由于溫度下降而導(dǎo)致的光纖損耗是可逆的，隨著溫度的回升，損耗也會(huì)隨之下降。?1、光纖的溫度特性是指在高、低溫條件下對(duì)光纖損耗的影響。在低溫條件下光纖損耗增大，這是由于光纖涂覆層、套塑層和石英的膨

• 電子元器件主要的檢測(cè)項(xiàng)目

  電子元器件主要有三類檢測(cè)項(xiàng)目：1.常規(guī)測(cè)試主要測(cè)試電子元器件的外觀、尺寸、電性能、安全性能等；根據(jù)元器件的規(guī)格書測(cè)試基本參數(shù)，如三極管，要測(cè)試外觀、尺寸、ICBO、VCEO、VCES、HFE、引腳拉力、引腳彎曲、可焊性、耐焊接熱等項(xiàng)目，部分出口產(chǎn)品還要測(cè)試RoHS。2.可靠性測(cè)試主要測(cè)試電子元器件的壽命和環(huán)境試驗(yàn)；根據(jù)使用方的要求和規(guī)格書的要求測(cè)試器件的壽命及各種環(huán)境試驗(yàn)，如三極管，要進(jìn)行高溫試驗(yàn)

• 無(wú)塵高溫箱的使用方法與注意事項(xiàng)

  Lab Companion?無(wú)塵高溫箱系列用于半導(dǎo)體制造中硅片、砷化jia、鈮酸鋰、玻璃等材料涂膠前的預(yù)處理烘烤、涂膠后堅(jiān)膜烘烤和顯影后的高溫烘烤；也適用于電子液晶顯示、LCD、CMOS、IS、醫(yī)藥、實(shí)驗(yàn)室等生產(chǎn)及科研部門；也可用于非揮發(fā)性及非易燃易爆物品的干燥、熱處理、老化等其他高溫試驗(yàn)。無(wú)塵高溫箱是實(shí)驗(yàn)輔助干燥設(shè)備之一，應(yīng)用范圍廣泛，操作較復(fù)雜，因此，較一般烘箱有著較高的要求，使用過(guò)

• 為什么高溫烘箱不能在滿載情況下做試驗(yàn)

  據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求高溫烘箱的工作室容積至少應(yīng)是被測(cè)試產(chǎn)品外廓體積的3～5倍，其理由如下：1、被測(cè)試產(chǎn)品置入箱體后擠占了流暢的通道，通道變窄將導(dǎo)致氣流流速的增加，加速氣流與被測(cè)試產(chǎn)品之間的熱交換。這與環(huán)境條件的再現(xiàn)不符，因?yàn)樵谟嘘P(guān)標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)涉及溫度環(huán)境試驗(yàn)都規(guī)定高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)試驗(yàn)樣件周圍的空氣流速不應(yīng)**過(guò)1.7m/s，以防止試驗(yàn)樣件和周圍氣氛產(chǎn)生不符合實(shí)際的熱傳導(dǎo)，在空載時(shí)試驗(yàn)箱內(nèi)平均風(fēng)速為0.6～0.8m/