specim高光譜成像技術(shù)對(duì)比三原色相機(jī)成像的優(yōu)勢(shì)

時(shí)間：2022-10-09作者：深圳維爾克斯光電有限公司瀏覽：180

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• 非線性晶體-鈮酸鋰晶體、ZGP晶體、KDP，DKDP晶體 選型事項(xiàng)

  深圳維爾克斯光電代理的立陶宛Optogama非線性光學(xué)晶體，是對(duì)于激光強(qiáng)電場(chǎng)顯示二次以上非線性光學(xué)效應(yīng)的晶體。非線性光學(xué)晶體是一種功能材料，其中的倍頻（或稱“變頻”）晶體可用來對(duì)激光波長(zhǎng)進(jìn)行變頻，從而擴(kuò)展激光器的可調(diào)諧范圍，在激光技術(shù)領(lǐng)域具有重要應(yīng)用價(jià)值。立陶宛Optogama公司為基礎(chǔ)研究、應(yīng)用研究和工業(yè)應(yīng)用提供不同的非線性晶體。晶體生產(chǎn)技術(shù)有：通量法，CZ，Stepanov，Kyropoul

• 線激光元件被用于晶圓檢測(cè)

  在半導(dǎo)體行業(yè)中，極小的表面缺陷和顆粒是一個(gè)主要問題，這會(huì)降低產(chǎn)量并耗費(fèi)生產(chǎn)的時(shí)間和成本。因此，檢測(cè)半導(dǎo)體晶圓表面的缺陷和污染至關(guān)重要，這是在半導(dǎo)體計(jì)量行業(yè)許多客戶面臨的挑戰(zhàn)。晶圓表面檢測(cè)的快速且具有成本效益的方法之一是使用激光線照明和暗場(chǎng)/明場(chǎng)顯微鏡來檢測(cè)缺陷，通常在深紫外（DUV）波長(zhǎng)下檢測(cè)100nm以下的缺陷。在這種方法中，Holoor指出當(dāng)線沿徑向掃描時(shí)，晶圓旋轉(zhuǎn)，產(chǎn)生晶圓的大面積采樣，從而

• stellarnet近紅外分析儀的對(duì)比同行的優(yōu)勢(shì)

  本文為Stellarnet便攜式近紅外分析儀的售前問答，解釋了Stellarnet近紅外分析儀是如何工作的，工作原理，解析結(jié)果精準(zhǔn)嗎等問題，還說明了Stellarnet產(chǎn)品有哪些優(yōu)勢(shì)等等。?StellarNet分析儀中的技術(shù)比競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手好還是差？StellarCASE-NIR?TM?分析儀使用具有512像素檢測(cè)器的近紅外二極管陣列技術(shù)。大多數(shù)具有同類競(jìng)爭(zhēng)品的二極管陣列分

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  Optotune散斑衰減器LSR選型非常的簡(jiǎn)單，總共就兩個(gè)型號(hào)，SR-4C-L-18x18-9-T2-VIS和LSR-4C-L-18x18-9-T2-NC，這兩個(gè)型號(hào)的參數(shù)一樣，區(qū)別只是一個(gè)鍍膜和另外一個(gè)不鍍膜。此外還有一些配置可供客戶選擇，第一個(gè)配置是5V DC、USB電源插頭，另外一個(gè)配置是散斑衰減器LSR擴(kuò)散器的支架，這兩個(gè)配置客戶可以按照自己的需求來買。如果客戶有符合的電源插頭可以不必要多