手持式光譜儀檢測(cè)結(jié)果與試樣表面清潔度的關(guān)系

時(shí)間：2022-08-03作者：科邁斯（深圳）科學(xué)儀器有限公司瀏覽：280

科邁斯（深圳）科學(xué)儀器有限公司專注于手持式X熒光光譜儀,手持式XRF合金分析儀,手持式直讀光譜儀等

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• 手持式光譜儀測(cè)試范圍的局限性

  企業(yè)外出采購金屬材料時(shí)，常常使用到手持式光譜儀。采購時(shí)就能夠知道金屬材料的質(zhì)量是否達(dá)到企業(yè)產(chǎn)品需求，但手持式光譜儀并不是所有元素都能檢測(cè)，也是有局限性的，下面科邁斯儀器帶大家一起看看手持式光譜儀需要注意的局限性。1.檢出限不會(huì)低到實(shí)驗(yàn)室結(jié)果的水平，而且不是所有元素都能檢測(cè)。比如手持式光譜儀測(cè)不到金屬中的碳非金屬元素（C）、氫（H）、氧（O）、氮（N）、硼（B），金屬元素如鋰（Li)）、的鈹（Be）

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  SDD還是PIN：您的手持式XRF分析儀需要哪種探測(cè)器？在購買手持式XRF分析儀時(shí)，確定需要硅漂移探測(cè)器（SDD）還是PIN探測(cè)器是您需要做出的首要選擇之一?？七~斯KMX-RAY?XRF系列中的兩款儀器就配備了兩種不同的探測(cè)器：K-8000分析儀裝配有Si-PIN探測(cè)器(美國MOXTEK)，而K-800、K-8000PLUS分析儀裝配有SDD探測(cè)器(德國KETEK)。SDD對(duì)比PIN：它