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X射線熒光光譜儀(XRF)是一種廣泛應(yīng)用于元素分析和鍍層測厚的工具,而能量色散X熒光光譜儀(ED-XRF)則是其重要變體。本文將簡單介紹ED-XRF的工作原理以及應(yīng)用。?ED-XRF的工作原理首先涉及到X射線的產(chǎn)生。在ED-XRF儀器中,一束高能電子通過X射線管,通常由鉭制成。電子在X射線管中受到加速并撞擊X射線管的陽極材料,如鎢或銠。這個(gè)過程產(chǎn)生了高能X射線。?生成的X射線穿
大家好,今天小編為大家分享的是連接器鍍層測厚解決方案。?連接器(Connectors),在國內(nèi)亦稱為接插件、插頭和插座,扮演著電路或光通道連接的重要角色。它是一種功能元件,借助電信號(hào)或光信號(hào)以及機(jī)械力量的作用,實(shí)現(xiàn)電路或光通道的接通、斷開或轉(zhuǎn)換。連接器在各種領(lǐng)域如航空、通訊、計(jì)算機(jī)、工業(yè)等中,起著連接電信號(hào)或光信號(hào)的關(guān)鍵作用,確保信號(hào)傳輸?shù)臏?zhǔn)確和穩(wěn)定。本文將聚焦于連接器中的接觸件表面鍍層
光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測方面的應(yīng)用介紹
貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素(釕、銠、鈀、鋨、銥、鉑)。貴金屬純度檢測一般依據(jù)兩項(xiàng)國家標(biāo)準(zhǔn)來進(jìn)行,國家質(zhì)檢總局發(fā)布的國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來進(jìn)行貴金屬含量的無損檢測方法。目前在貴金屬制造行業(yè)已經(jīng)形成大規(guī)模使用X熒光光譜儀(XRF)來測試貴金屬含量。那光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測方面有哪些優(yōu)勢呢?今天就和光譜分析儀生產(chǎn)
在現(xiàn)代工業(yè)領(lǐng)域中,陶瓷金屬化是一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù),用于賦予陶瓷材料金屬性能,增強(qiáng)其導(dǎo)電性、導(dǎo)熱性以及機(jī)械強(qiáng)度,從而拓展其應(yīng)用范圍。陶瓷金屬化旨在充分發(fā)揮陶瓷和金屬的優(yōu)勢,將兩者**結(jié)合,為各行各業(yè)帶來了全新的可能性。然而,在實(shí)際應(yīng)用中,陶瓷金屬化鍍鎳的質(zhì)量控制和測厚過程卻面臨著一系列挑戰(zhàn)。?陶瓷金屬化是通過在陶瓷表面沉積金屬層,實(shí)現(xiàn)材料性能改善的過程。這種技術(shù)可以賦予陶瓷材料較好的導(dǎo)電性、導(dǎo)熱
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機(jī): 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號(hào)
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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