熒光光譜測(cè)厚儀選擇要注意哪些要素

時(shí)間：2022-06-20作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：294

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標(biāo)準(zhǔn)片,光譜儀測(cè)厚儀等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• XTU-50A高性能膜厚儀簡(jiǎn)介及性能優(yōu)勢(shì)

  江蘇一六儀器有限公司一直專注于光譜測(cè)厚儀的研發(fā)和生產(chǎn)，近些年服務(wù)了眾多客戶，獲得了一直**。下面就跟著一六儀器來(lái)了解一下XTU-50A高性能膜厚儀XTU-50A是一款設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)緊湊，模塊精密化程度較高的鍍層測(cè)厚儀，采用了下照式C型腔體設(shè)計(jì)，不但可以測(cè)量各種微小樣品，即使大型**出樣品腔尺寸的工件也可測(cè)量，是一款測(cè)量涂鍍層成分及厚度*、適用性強(qiáng)的機(jī)型。該系列儀器使用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深

• X熒光光譜儀兩種分類介紹

  隨著科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步，在60年代初發(fā)明了半導(dǎo)體探測(cè)器以后，對(duì)X-熒光進(jìn)行能譜分析成了可能。能譜色散型X熒光光譜儀(ED-XRF)，用X射線管產(chǎn)生原級(jí)X射線照射到樣品上，所產(chǎn)生的特征X射線(熒光)直接進(jìn)入半導(dǎo)體探測(cè)器，便可以據(jù)此進(jìn)行定性分析和定量分析。接下來(lái)和一六儀器了解X熒光光譜儀兩種分類介紹。X-射線熒光光譜儀(XRF)是一種較新型可以對(duì)多元素進(jìn)行快速同時(shí)測(cè)定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測(cè)元素原子的

• X射線熒光光譜測(cè)厚儀的優(yōu)勢(shì)介紹

  市面上常見的材料成分厚度測(cè)試的方法有：金相顯微鏡法、庫(kù)倫法、磁性法、電渦流法、X光射線法等。這些方法都有自己的特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)。金相顯微鏡法耗費(fèi)時(shí)間長(zhǎng)和庫(kù)倫法一樣都屬于破壞性測(cè)試，磁性法和電渦流法的應(yīng)用范圍窄，那X光射線法有什么特點(diǎn)呢?今天就跟著X射線熒光光譜測(cè)厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來(lái)說(shuō)一說(shuō)吧。X光射線法的測(cè)試原理：X射線射到電鍍層表面，產(chǎn)生X射線熒光，根據(jù)熒光譜線元素能量位置及其強(qiáng)度確定鍍層組成及

• 一文讀懂膜厚檢測(cè)儀的磁感應(yīng)原理是什么

  一六儀器與客戶共創(chuàng)**，與員工共同發(fā)展，秉持“成就客戶，創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)，精準(zhǔn)求實(shí)，誠(chéng)信負(fù)責(zé)”的**觀，為國(guó)內(nèi)外客戶提供專業(yè)的技術(shù)解決方案。一六小編說(shuō)說(shuō)膜厚檢測(cè)儀的磁感應(yīng)原理。膜厚檢測(cè)儀分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其