X射線熒光光譜分析樣品制備及應(yīng)用

時間：2022-06-13作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：149

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標準片,光譜儀測厚儀等

• 詞條

  詞條說明

• 膜厚測量儀用途及優(yōu)點

  X射線射到電鍍層表面，產(chǎn)生X射線熒光，根據(jù)熒光譜線元素能量位置及其強度確定鍍層組成及厚度。接下來和膜厚測量儀生產(chǎn)廠家了解膜厚測量儀用途及優(yōu)點。膜厚測量儀用途：* 探頭可互換，與所有主機兼容;* 多種校準選項,包括一點和兩點校準,已知厚度;* 均值零點校準;* 多種語言可選;* 背光顯示,方便在昏暗環(huán)境下的操作;* 倒置顯示，翻轉(zhuǎn)測量時不妨礙正常讀數(shù);* 可擴展探頭電纜長度(較長可達250英尺/75

• 光譜儀在科學領(lǐng)域的應(yīng)用整合

  光譜儀曾經(jīng)是應(yīng)用較廣泛的品牌之一，被應(yīng)用在了染織工業(yè)、環(huán)境科學、生物學、材料科學、高分子化學、催化、煤結(jié)構(gòu)研究、石油工業(yè)、生物醫(yī)學、生物化學、藥學、半導體材料、日用化工等研究領(lǐng)域。接下來和一六儀器一起了解光譜儀在科學領(lǐng)域的應(yīng)用整合。光譜儀在科學領(lǐng)域的應(yīng)用整合：1、廢料分揀用于廢料分揀的奧林巴斯光譜儀帶有一個智能分揀功能，可以基于被測材料簡單直觀地延長或縮短檢測時間，從而既節(jié)省了時間，又盡可能為用戶

• X熒光光譜儀對于陶瓷金屬化之燒滲法的涂層厚度測試

  X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試，厚度的測量范圍視材料和元素而定。接下來和一六儀器一起了解X熒光光譜儀對于陶瓷金屬化之燒滲法的涂層厚度測試。燒滲法也叫被銀法。這種方法是在陶瓷的表面燒滲一層金屬銀，作為電容器、濾波器的電極或集成電路基片的導電網(wǎng)絡(luò)。銀的導電能力強，抗氧化性能好，在銀面上可直接焊接金屬。燒滲的銀層結(jié)合牢固，熱膨脹系數(shù)與瓷坯接近，熱穩(wěn)定性好。此外燒滲的溫度較低，燒滲工

• 為什么RoHS檢測儀要用X射線熒光光譜

  X射線熒光光譜儀(XRF)由激發(fā)源(X射線管)和探測系統(tǒng)構(gòu)成。許多ROHS檢測儀器用戶大概都不太清楚儀器是基于怎樣的應(yīng)用原理來完成作業(yè)的，這就是今天我們跟著RoHS檢測儀生產(chǎn)廠家一六儀器來了解一下XRF-X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點。X射線管產(chǎn)生入射X射線(一次X射線)，激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)