光譜分析儀的使用范圍介紹

時間：2022-05-17作者：江蘇一六儀器有限公司瀏覽：350

江蘇一六儀器有限公司專注于能量色散X熒光光譜儀,標準片,光譜儀測厚儀等

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  詞條說明

• X熒光光譜儀在檢測分析時采用的定律有哪些

  X熒光光譜儀能夠?qū)ι钪胁煌匦纬傻母魇礁鳂拥膶w及非導體材料進行分析，近些年在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。那么X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢?今天就和X熒光光譜儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來了解一下吧。1、莫塞萊定律臺式光譜儀發(fā)生故障時，尤其是發(fā)生比較復(fù)雜的綜合性故障，對于解決這種故障應(yīng)該先從比較容易解決的故障入手。2、布拉格定律該定律是一種可以反映晶體衍射基本關(guān)系的理論推導定律，同時，布拉

• 如何選擇適合的鍍層測厚儀？關(guān)鍵要點一覽

  在現(xiàn)代制造業(yè)中，鍍層測厚儀是一項重要的工具，它可以幫助我們準確地評估金屬表面上的鍍層厚度，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。然而，在選擇合適的鍍層測厚儀時，我們需要考慮多個關(guān)鍵要點，以確保我們的選擇滿足實際需求并獲得準確的測量結(jié)果。?1. 測量范圍和精度：首先，你需要明確你所需測量的鍍層厚度范圍，并選擇一個測量范圍適當且精度足夠高的儀器。精度對于一些要求嚴格的應(yīng)用非常重要，因此儀器的精度要符合你的

• 光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測方面的應(yīng)用介紹

  貴金屬主要指金、銀和鉑族金屬元素(釕、銠、鈀、鋨、銥、鉑)。貴金屬純度檢測一般依據(jù)兩項國家標準來進行，國家質(zhì)檢總局發(fā)布的國家標準GB/T18043《貴金屬首飾含量的無損檢測方法X射線熒光光譜法》中明確指出可使用X熒光來進行貴金屬含量的無損檢測方法。目前在貴金屬制造行業(yè)已經(jīng)形成大規(guī)模使用X熒光光譜儀(XRF)來測試貴金屬含量。那光譜分析儀在珠寶首飾行業(yè)鍍層檢測方面有哪些優(yōu)勢呢?今天就和光譜分析儀生產(chǎn)

• 一六儀器生產(chǎn)的XTD系列光譜測厚儀有哪些優(yōu)勢？

  XTD系列上照式光譜測厚儀，適用于各種**大異形件及微小密集型多點測試，如五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密密集電子元器件表面處理的成分和厚度分析。那今天光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器就來跟大家介紹一下XTD系列產(chǎn)品吧。XTD系列產(chǎn)品特征：① XYZ高精密移動裝置：快速精準定位，手/自動(可選)，自動版可實現(xiàn)編程定位多點自動控制。② 變焦+對焦：配備高敏感鏡頭，實現(xiàn)無感對焦，可測各種異形件、**大工件