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鍍層分析時,XRF鍍層測厚儀將此信息轉(zhuǎn)換為厚度測量值。在進行測量時,X射線管產(chǎn)生的高能量x射線通過光圈聚集,并照射在樣品非常小的區(qū)域(該區(qū)域的大小為光斑尺寸)。這些X射線與光斑內(nèi)元素的原子相互作用。鍍層測厚儀的應用范圍越來越廣泛,市場上的品牌也越來越多,我們在選擇的時候往往非常糾結(jié),不知道如何才能選擇到合適的產(chǎn)品。那今天就跟著鍍層測厚儀廠家一六儀器的小編來了解一下吧。鍍層測厚儀有國產(chǎn)的也有進口的,
XU-100光譜測厚儀相比其他品牌測厚儀有哪些優(yōu)勢?
XU-100光譜測厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計,搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng),以及高敏變焦測距裝置,對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。檢測各種金屬鍍層,檢出限可達0.005μm,較近測距光斑擴散度10%以內(nèi),凹槽深度測量范圍可達030mm,是一款測量鍍層厚度*、適用性強的機型。① 下照式設(shè)計:可以快速方便地定位對焦樣品。② 高精密微型移動滑軌:快速精準定位樣品。③ 微焦X
市面上常見的材料成分厚度測試的方法有:金相顯微鏡法、庫倫法、磁性法、電渦流法、X光射線法等。這些方法都有自己的特點和優(yōu)勢。金相顯微鏡法耗費時間長和庫倫法一樣都屬于破壞性測試,磁性法和電渦流法的應用范圍窄,那X光射線法有什么特點呢?今天就跟著X射線熒光光譜測厚儀生產(chǎn)廠家一六儀器的小編來說一說吧。X光射線法的測試原理:X射線射到電鍍層表面,產(chǎn)生X射線熒光,根據(jù)熒光譜線元素能量位置及其強度確定鍍層組成及
XTD系列鍍層測厚儀,適用于各種**大異形件及微小密集 型多點測試,如五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密密集電子元器件表面處理的成分和厚度分析。接下里和一六儀器一起了解一下XTD系列鍍層測厚儀性能優(yōu)勢和故障處理。XTD系列鍍層測厚儀性能優(yōu)勢:**的EFP算法 :多層多元素、各種元素及**物,甚至有同種元素在不同層也可精準測量;上照式設(shè)計 :實現(xiàn)可對**大工件進行快、準、穩(wěn)高效率測量;自動對焦 :高
公司名: 江蘇一六儀器有限公司
聯(lián)系人: 董思琪
電 話:
手 機: 18915487005
微 信: 18915487005
地 址: 江蘇蘇州昆山市成功路168號
郵 編:
網(wǎng) 址: elite1617.b2b168.com
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