美國(guó)Cambridge Technology二軸掃描振鏡ProSeries

時(shí)間：2021-12-08作者：天津瑞利光電科技有限公司瀏覽：94

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  產(chǎn)品介紹：使用后光路衰減器可測(cè)量過(guò) 8.0 個(gè)吸光度 (Abs)的樣品使用 InGaAs 檢測(cè)器在175 - 1800 nm范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量，WinUV 軟件 — 模塊化的軟件具有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析、處理與報(bào)告導(dǎo)出功能成套多功能 附件 — 可用于包括鏡面反射和漫反射在內(nèi)的材料研究可變狹縫寬度（min. 0.01 nm）實(shí)現(xiàn)了對(duì)數(shù)據(jù)分辨率的優(yōu)化控制高光通量 — 使用 Schwarzchild 耦合光學(xué)器件