燈具出口美國(guó)UL認(rèn)證辦理

時(shí)間：2020-09-14作者：深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司瀏覽：216

深圳市訊科標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)服務(wù)有限公司專注于高低溫測(cè)試,鹽霧測(cè)試,污水檢測(cè)報(bào)告,質(zhì)量檢測(cè)報(bào)告,深圳訊科等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 防塵防水測(cè)試(IP等級(jí)）檢測(cè)

  一、防塵試驗(yàn)項(xiàng)目詳細(xì)介紹?：對(duì)于可便攜式、戶外用以及汽車(chē)電子均有防塵測(cè)試要求，在**上不論是IEC、MIL或ETSI以及SAE均有制訂相對(duì)應(yīng)的測(cè)試要求。IEC/E**0529防塵分為7個(gè)等級(jí)(等級(jí)0?~?等級(jí)6)，防塵等級(jí)(e.g.?IP5X-防塵等級(jí)5)??Level?0:?完全無(wú)防塵保護(hù)??Le

• 什么是「鹽霧測(cè)試」？

  腐蝕是資料或其特性在環(huán)境的功效下造成的毀壞或霉變。大部分的腐蝕產(chǎn)生在空氣環(huán)境中，大氣中帶有o2、環(huán)境濕度、溫度改變和污染物質(zhì)等腐蝕成份和腐蝕要素。鹽霧腐蝕便是一種普遍和較有毀滅性的空氣腐蝕。鹽霧對(duì)金屬?gòu)?fù)合材料表面的腐蝕是因?yàn)榘穆入x子含量透過(guò)金屬材料表面的空氣氧化層和安全防護(hù)層與內(nèi)部材料產(chǎn)生電化學(xué)腐蝕引發(fā)的。與此同時(shí)，氯離子含量包含一定的水合能，易被粘附在金屬材料表面的孔隙度、縫隙排斥并替代空氣

• 半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置的日常保養(yǎng)

  半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置的日常保養(yǎng)?????用戶在使用半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置的時(shí)候，需要經(jīng)常對(duì)半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置進(jìn)行保養(yǎng)工作，使得半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置達(dá)到較好的運(yùn)行效果。打掃半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置表面及內(nèi)腔灰塵，保持機(jī)器干凈、衛(wèi)生。檢查電流表電流跟正常時(shí)是否一樣，如有異樣，通知維修工檢修。半導(dǎo)體芯片高低溫測(cè)試裝置突然停電，要把加熱開(kāi)關(guān)

• 高溫試驗(yàn)第三方檢測(cè)中心

  ?高溫運(yùn)行（高溫貯存）的目的是確定軍民用設(shè)備、零部件在常溫條件下儲(chǔ)存和工作的儲(chǔ)存、使用的適應(yīng)性及耐久性，確認(rèn)材料高溫下的性能，為能正確觀察與驗(yàn)證產(chǎn)品在高溫環(huán)境下之熱效應(yīng)，同時(shí)避免因濕度效應(yīng)影響試驗(yàn)結(jié)果，標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)于試驗(yàn)前處理、試驗(yàn)初始檢測(cè)、樣品安裝、中間檢測(cè)、試驗(yàn)后處理、升溫速度、溫度柜負(fù)載條件、被測(cè)物與溫度柜體積比等均有規(guī)范要求，高溫條件下試件的失效模式 產(chǎn)品所使用零件、材料在高溫時(shí)可能